インライン検査での測定時間を短縮|光学断層測定器 高速タイプ
散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に好適!
『IVS-2000-HS』は、高速測定が可能な中心波長1310nm帯の SS-OCTシステムです。 高速(100kHz)測定により、インライン検査等での測定時間を 短縮できます。 高軸方向分解能は18um未満(空気中)を実現しており、 高精度な断層測定が可能です。 【特長】 ■中心波長:1310nm ■A-lineレート:100kHz ■高軸方向分解能:18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業:santec Holdings株式会社
- 価格:応相談