高低差のある測定物を一括で3次元測定|光学断層測定器
高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が可能!
『IVS-2000-LC』は、深いイメージングレンジを持つ 中心波長1310nm帯のSS-OCTシステムです。 この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、 散乱の強い対象物の測定に適しています。 深いイメージングレンジ(空気中で18mm以上)により、 高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が 可能です。 【特長】 ■中心波長:1310nm ■A-lineレート:50kHz ■高軸方向分解能:18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業:santec Holdings株式会社
- 価格:応相談