半導体/FPD検査顕微鏡 MX63/MX63L
半導体・FPDなどの検査をより快適に、より効率的に
MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることで、お客様に有益なシステムを提供することができます。 さらに、PRECiV画像解析ソフトウェアと組み合わせることで、観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提案します。
- 企業:株式会社ナガタ
- 価格:応相談