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一つの波長だけでは見えずらい欠点も完全に検知可能なフラットフィルム欠点検査措置
当社では、Dr.Schenk社製(ドイツ)の『フラットフィルム欠点検査措置』を 取り扱っております。 明視・暗視光源の高速スイッチング技術にて最大5チャンネルにて同一欠点を 別光源からみた画像で取得ができ、一つの波長だけでは見えずらい欠点も 完全に検知可能。 これにより、高い欠点分類能力を達成する事ができ、Critical Defect、 Marginal、Negligibleの判別もできます。 【特長】 ■Dr.Schenk社製(ドイツ) ■最大5チャンネルにて同一欠点を別光源からみた画像を取得 ■一つの波長だけでは見えずらい欠点も完全に検知可能 ■独自の高輝度LED光源により欠点検知において高いS/N比にて検知可能 ■膜厚、ヘイズ等の膜質観察も可能(ソフトウェアオプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
天面欠点と口部側面欠点を同時に検査！カメラ2台を搭載で型替時間を短縮
当社で取り扱っている「SMI(天口側面検出器)」についてご紹介いたします。 天面欠点(天筋、天泡、天出不足、口内咬み出し)と口部側面欠点(口部石、 口内泡、ネジ欠けおよび不透明異物)を同時に検査する装置です。 1ステーションで天面と口側面の欠点を同時に検査ができ、セッティングの 簡素化などといった特長が備わっております。 【特長】 ■1ステーションで天面と口側面の欠点を同時に検査できる ■セッティングの簡素化 ■処理基板8枚収納できるスロットを用意 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
朝日測器社 『欠点検査装置』〜総合カタログ〜無料配布中！
世界トップレベルの技術を駆使し、欠点検査における あらゆるニーズに対応している 朝日測器社総合カタログのご案内です。 ■□■掲載内容■□■ ■表面検査装置 各種 ■小型ラベルマーカー ■ペンマーカー ■ピンホール検査装置 各種 ■粉粒剤異物検査装置 ■フレーク異物検査装置 ■樹脂ペレット異物検査装置 ■コンタミチェッカー ■テンションメーター（ロードセル型張力検出器） ■計測・試験装置 ■その他掲載内容はカタログダウンロードからご覧頂けます。 詳細は、お問い合わせ下さい。
