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欠陥評価 - メーカー・企業と製品の一覧

欠陥評価の製品一覧

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外観検査システム:塗装コーティング材設計工程におけるブツ欠陥評価

熟練者でないと困難な作業においても安定した評価が可能!高機能材料の外観システムの仕様例をご紹介

"いろいろな検査装置で試してみたが、ブツなどが検出できない" というお困りごとに対し、当社では、「高精度カメラ・パターン照明・ 専用画像処理技術」で検出することを提案します。 パターン照明+専用画像処理技術で検出。パターン縞画像の複数画像合成を 生成する事でブツ欠陥が強調され認識出来ます。 また、熟練者でないと困難な作業においても安定した評価が可能です。 【測定エリア仕様例】 ■測定エリア:54×18mm ■画素サイズ:0.010×0.010mm ■最小検出ブツサイズ:約30μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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放射光トポグラフィーによる欠陥評価

高い分解能で4インチ~6インチの大口径ウェーハ全面の欠陥評価を非破壊で可能!

当社で行う「放射光トポグラフィーによる欠陥評価」について ご紹介します。 SiCやGaNといった化合物半導体においては、結晶欠陥が多く含まれており、 素子特性に大きな影響を与えます。 当評価により、高い分解能で4インチ~6インチの大口径ウェーハ全面の 欠陥評価を非破壊で行うことが可能です。 【特長】 ■各種の結晶欠陥を数μmの解像度で可視化することが可能 ■ラボ装置では検出できない、貫通刃状転位(TED)の検出が可能 ■欠陥の種類、分布を評価することが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・評価受託

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