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温度サイクル試験 - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products

温度サイクル試験 Product List

1~5 item / All 5 items

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二層式温度サイクル試験

2ZONE式の温度サイクル槽、温度移行時間が通常に比べ早いのが特徴です

    

  • その他半導体製造装置
  • 受託測定

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電子部品の急速温度サイクル試験

温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します

「電子部品の急速温度サイクル試験」は、外部環境および 自己発熱による温度が繰り返し変化する状況を想定し、 熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 冷熱衝撃装置は、試料へ均一な温度ストレスを与える2ゾーン方式で、 MIL-STD-883、JIS C 60068-2-14などの規格試験に対応。 急速温度変化チャンバーは、試験要求が厳しくなる車載用部品の 環境試験にマッチした恒温恒湿器です。 【冷熱衝撃装置の仕様(一部)】 ■設定温度への到達が早く、試験時間を短縮 ■試料の温度復帰を15分以内で実現 ■型式:TSD-101-W ■メーカー:エスペック株式会社 ■テストエリア内容量:100l ■テストエリア耐荷重:30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子部品の急速温度サイクル試験2.PNG
  • 電子部品の急速温度サイクル試験3.PNG
  • 公共試験/研究所

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温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー)

より市場再現性の高い評価方法が求められる!温度サイクル試験をご紹介

温度サイクル試験は、外部環境及び自己発熱による温度が繰り返し変化する 状況を想定し、熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 「急速温度変化チャンバー(ESPEC製 HRS-306M)」では、温度勾配が 10℃/1minとなっており、試料の温度を制御しながら、周囲の温度も 急速に変化させることが目的。 液槽、気槽式の冷熱衝撃試験機と違い試験品に過剰なストレスを与えず、 より現実的な環境下での温度サイクル試験が可能となります。 【試験装置仕様】 ■型番:HRS-306M ■メーカー:ESPEC ■温度範囲:-40℃~+180℃ ■湿度:20~98%rh ■槽内サイズ:W600×H800×D600 ■温度変化速度:10℃/1min ■内容量:306L ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 環境試験装置

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急速温度変化チャンバーを使った温度サイクル試験(温度勾配制御)

勾配制御可能な温度サイクル槽で車載向け試験で使用できます

JEDEC規格(JESD22-A104)に準拠した 温度サイクル試験が可能です。

  • その他半導体製造装置
  • 受託測定

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電子部品の温度サイクル試験

温度が繰り返し変化する環境を想定し、温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認!

当社で行う「電子部品の温度サイクル試験」についてご紹介します。 電子部品は、熱膨張係数が異なる様々な材料によって構成されています。 このため、熱膨張係数の違いによる応力が発生し、不具合が生じる場合が あります。 当試験は、指定された低温と高温に順次変化する環境に試験品を置き、 指定されたサイクル数のストレスを加える環境試験の一つです。 【対応規格】 ■JIS C60068-2-14(IEC 60068-2-14) ■JEITA EIAJ ED-4701/100A ■JEDEC JESD22-A104 ■MIL-STD-883 METHOD 1010 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 受託解析

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