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配線本数を大幅削減してメンテナンス性を向上！
F-300は任意の温度環境下において被測定物(DUT)の等価直列抵抗(ESR)、損失係数(tanδ)、静電容量(C)、インピーダンス(Z)等をLCRメーターによって測定し周波数特性を評価するシステムです。 新栄独自の開発のLCRマルチスキャンユニットにより、ケーブルを大幅削減いたしました。これにより、設置や移動などのメンテナンスが容易になります。 なお、お客様のご要望にあわせて、恒温槽、および本システムを操作するアプリケーション(別途開発)を用意いたします。現行システムからのリプレースや、機能追加・変更・カスタマイズについても柔軟に対応いたします。
温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメーターを自動収録
高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温（高湿）試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。絶縁破壊により漏れ電流発生の表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。
オペレータの負荷軽減・設備の稼働率UP・データの保管といった目的で導入されています！
本システムは、ダイオードやトランジスタ等の半導体製品の電気的特性を、 恒温槽を用いて温度及び湿度を変化させた状態で、測定・評価する為の システムです。 パソコンから半導体パラメータアナライザや、恒温槽、各種配線の切替器等を GP-IB制御し、測定の自動化及びデータの電子化を行います。 システム導入により、業務効率の改善、負荷の軽減といった効果が得られます。 【導入効果】 ■業務効率の改善 ・自動化することで業務効率がUP(試験開始後は無人運転でOK) ・高価な機器をより効率良く運用できるようにした ■負荷の軽減 ・一連の環境制御を素早く自動測定する為、省エネルギー化が可能 ・製品を過酷な環境にしている時間を必要最小限に抑えられた ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメーターを自動収録！
『AMQ』は、効率よくデータ収集するための多チャネル化に加え、 環境試験装置と計測・評価システムの連動により、自動化を実現した コンデンサ温度特性評価システムです。 温度環境下において静電容量(C)、損失係数(D)、インピーダンス(Z)の 多チャネル測定が実施可能。チャネル構成は標準で8チャネルを備え、 最大64チャネルまで増設できます。 収録したデータは多彩なグラフ機能により、温度・周波数・時間に対する 各電気特性および変化率をリアルタイムに確認いただけます。 【特長】 ■最大64チャネルまでの自動測定 ■測定結果をリアルタイムに確認できるグラフ機能 ■さまざまな試験モードから選択 ■試験サンプルに適合した多種多様な治具をご用意(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
