日影測定分析器 SunEye 210 レンタル
日影分析可能なソーラー測定器（GPS搭載）。太陽光発電システム施行前の発電量調査、ソーラーパネル検査の必需品！
太陽光発電システムを施工する前に、1回の撮影で、月間や年間日照時間を算出できます。 搭載されている魚眼レンズで周囲を撮影し実際に影が発生する位置を特定し年間の太陽軌跡から年間の日照時間を求められます。
- 企業：株式会社レックス
- 価格：応相談
測定分析装置 - 企業4社の製品一覧
製品一覧
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蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適！
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■電動ステージ付き ■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる ■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用 ■高い凡用性 ■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
クオルテックでは、有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置を 導入いたしました。 ターゲット膜の絶対反射率を測定し、膜厚と光学定数を精度良く計測する 「顕微反射分光膜厚計」をはじめ、非接触、非破壊で仕事関数、イオン化 ポテンシャルを測定する「光電子分光装置」や「分光蛍光光度計」など、 さまざまな測定・分析装置を取り扱っています。 【特長】 ＜顕微反射分光膜厚計＞ ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
XRF測定分析器『SHIMADZU EDX-7000』
カドミウム、鉛等が含有されていない材料を使用するため、徹底した測定を実施
株式会社アサヒはアクションカムやスマートフォンの防水ケース、本体外装、 各種アクセサリーを設計製造しているメーカーです。 『SHIMADZU EDX-7000』は、EUのRoHS指令とお客様のご要望を満たすために 導入したXRF測定機（蛍光X線分析装置）です。 カドミウム（Cd）、鉛（Pb）等が含有されていない材料を使用するため、 徹底した測定を行っています。 【特長】 ■EUのRoHS指令とお客様のご要望を満たすために導入 ■カドミウム（Cd）、鉛（Pb）等が含有されていない材料を使用するため、 徹底した測定を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アサヒ
- 価格：応相談
