【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
『業界初の手法』!独自技(特許出願中)を用いて正しい解を導き出します。
・カスタムの熱抵抗検査装置 ・半導体製品の熱抵抗解析受託(実測及びシミュレーション) 弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。 『業界初の手法』として特許出願中。
- 企業:株式会社Wave Technology
- 価格:応相談
1~3 件を表示 / 全 3 件
『業界初の手法』!独自技(特許出願中)を用いて正しい解を導き出します。
・カスタムの熱抵抗検査装置 ・半導体製品の熱抵抗解析受託(実測及びシミュレーション) 弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。 『業界初の手法』として特許出願中。
半導体及び熱解析技術に裏づけされた、熱抵抗検査装置のご提案
お客様ここの製品ジャンル及びニーズに合ったオリジナル装置をご提案致します。 単なる装置の販売ではなく、半導体技術及び熱解析技術の裏づけを基に、最適な仕様提案から測定条件のご提案まで、ソリューションとしてご提案致します。
半導体の熱抵抗を正しく測定できていますか?熱シミュレーション技術とコラボレートすることで、解決!
測定用素子として良く利用されるダイオード(PN接合)の特性を理解しないと、 正しく測定できない場合があります。 製品環境でのパッケージ熱抵抗を正しく求めるためには、実デバイスを使った 熱抵抗解析を高精度に評価する技術が必要となります。 局所発熱モデルにおいて実測と熱シミュレーションの整合モデルが作成出来ていれば、 任意発熱時の熱抵抗がシミュレーションで解けます。 弊社では、実測~シミュレーションまでの一環した受託サービスと合わせ、 熱抵抗検査装置を独自設計できる技術を保有しております。 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。