物性評価装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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物性評価装置 - メーカー・企業と製品の一覧

物性評価装置の製品一覧

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製品総合カタログ「粉粒体物性評価のフロントランナー」

粒子径・形状解析やガス吸着評価に!高品質な製品をラインアップしております

当カタログでは、さまざまな評価・解析装置をご紹介しております。  • レーザ回折・散乱、動的光散乱による粒子径分布評価  • 動的画像解析による粒子径分布・粒子形状評価  • 静的多重散乱法による分散安定性評価  • ガス吸着法による比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 MICROTRACは、粉粒体の物性評価におけるベストパートナーとして、 革新的な技術開発と高品質な製品ラインアップにて信頼性の高い測定結果を 得るための先進技術をお客様にご提供します。 【掲載内容(抜粋)】 ■3つの卓越したコア技術 ■粒子径分布・粒子形状評価「レーザ回折・散乱法」 ■粒子径分布・粒子形状評価「動的画像解析法」 ■粒子径・ゼータ電位「動的光散乱法/流動電位法」 ■分散安定性評価「静的多重光散乱法」 ■ガス吸着法「比表面積・細孔分布」 ■ガス吸着法「触媒評価・高圧ガス吸着量」 ■ガス吸着法「密度測定・試料前処理」 ■水銀圧入法「水銀ポロシメータ」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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ナノ粒子物性評価装置『NANOTRAC WAVE IIシリーズ』

デモ/分析受付中 動的光散乱式!測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用しました

広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理(動的光散乱法:DLS) ■低濃度から高濃度まで安定したデータ ■ヘテロダイン法の採用 ■バックグラウンド測定 ■独自の周波数解析アルゴリズムの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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