特性評価テストとは？半導体・電子部品テストの基礎知識資料進呈
【特性評価テストとその他テストとの違いとは？】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
ほとんどのテストは、デバイスがテストをクリアしたかどうかを確認するだけであり、 どの測定値が決められた限界にどれくらい近いかだけが分かりますが、それ以上の情報は得られません。 しかし、特性評価テストでは、デバイスがテストされるだけでなく、 すべてのパラメータに対してデータが収集され、統計的に分析されます。 そのためテストのクリア有無ではなくデバイスそのものが持つ特性を分析できるのが 特性評価テストの特長です。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 特性評価テストのより詳しい解説やその他基礎知識に関しても分かり易く解説をしておりますので ぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■ICコンポーネントテストとは何か？ ■不良デバイスとは何か？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
- 企業：Rochester Electronics, Ltd. 日本営業本部
- 価格：応相談
