簡易膜厚計 - 企業2社の製品一覧
製品一覧
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簡易 膜厚計『PosiTest DFT』
耐摩耗性に優れたルビーチップを採用！鉄・鋼素地上の非磁性皮膜の厚さを計測
『PosiTest DFT』は、JIS/ISOに適合した磁気誘導＆渦電流式膜厚計です。 プローブ先端は常に素地あるいは塗膜に繰り返し押し付けられ、 こすられ摩耗します。 この摩擦が精度劣化の原因となるため、硬さ、耐摩耗性に優れる ルビーチップを採用しました。 鉄母材用にFタイプ、全ての金属母材にコンボタイプの二種類をご用意しています。 【特長】 ■JIS K5600新1-7 測定法7C(ISO 2178)適合 ■測定対象：鉄・鋼素地上の非磁性皮膜 ■ルビーチップを採用 ■磁気誘導方式 ■カンタン操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社本田ビジネスシステムズ
- 価格：応相談
