【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
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