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セイコーフューチャークリエーション株式会社

設立1986年12月
住所千葉県松戸市高塚新田563
電話047-391-2298
  • 公式サイト
最終更新日:2023/08/04
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お客様の『技術課題の解決』に、我々の高度な『分析・微細加工技術』で協力し「もっと便利にもっと豊かな”未来”の構築」に貢献します

セイコーフューチャークリエーション株式会社は受託分析サービス、研究開発、生産技術、FAシステムを中核とした事業を行い、お客様の課題解決に向けた各種サービスを提供します 受託分析に関しては セイコーグループの開発、製造、品質保証の各工程での課題解決実績 があり、各種場面で背景まで想定し総合的な対応が可能です 時計やICを主としてプリンター関連などでの豊富な分析経験実績からミリオーダー~ナノオーダーサイズサンプルを取り扱えます 特に以下技術でお客様の課題解決に”多面的且つ総合的”に取り組みます ・集束イオンビーム装置(FIB)を使った微細加工 ・示差走査熱量計(DSC)他による材料性質の熱分析 ・走査型プローブ顕微鏡(AFM)他による微小部形態観察 ・各種装置(XPS、AES、GD-OES)による表面解析 ・各種装置(SEM、TEM)による断面観察、構造解析 技術者が直接相談対応いたします お困りごとがあればお気軽にお声がけいただければ幸いです ※セイコーフューチャークリエーション株式会社は2022年7月1日にセイコーアイ・テクノリサーチ株式会社から社名を変更しました

事業内容

各種、分析・試験の受託 (機器分析、集束イオンビーム加工、環境分析、材料試験、技術コンサルティング(材料・熱処理・表面処理 等)) 必要な情報やお困りごと等ありましたらぜひご連絡ください。 E-Mail:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp

おすすめ情報

製品・サービス (48)

 【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築 製品画像
【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築
【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価) 製品画像
【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価)
【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量 製品画像
【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量
【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工 製品画像
【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

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【DSC】温度変調DSC法の紹介(PETの評価)

【DSC】温度変調DSC法の紹介(PETの評価)

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【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量

【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量

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【FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

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【DMA】DMAによる長時間変形予測(ゴムの変形)

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ニュース(3)

第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023」の商業展示に出展

  • セミナー・イベント

「第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023」の商業展示に『FIBによるIC配線修正・回路修正 、FIB/TEMを用いた三次元断面観察による異物検出技術のご紹介』のテーマで出展いたします。 本展示会は半導体の各種場面で活用応用可能な様々な情報を入手できる絶好の機会です。 心よりお立ち寄りをお待ちしております。 【出展の概要】  第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023   ●公式HP:第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023   ●日時:2023年11月7日(火) 13:00~17:00       2023年11月8日(火) 9:30~17:00       2023年11月9日(木) 9:30~16:00   ●会場:千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市)   ●小間番号:21   ●セイコーフューチャークリエーション出展内容:    ・ICの配線修正加工    ・プロービングPADの作製    ・FIB-3D加工 TEM解析    ・化合物半導体TEM解析

2023年10月25日

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YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。

  • 製品ニュース

集束イオンビーム(Focused Ion Beam:FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM(電界放出形電子顕微鏡)を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製:Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 Slice & Viewにより不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できています。

2023年08月02日

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FIB-SEM装置Helios5 DualBeamを導入しました

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最新型集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)サーモフィッシャーサイエンティフィック製Thermo Scientiffic DualBeam装置Helios 5 CXを導入しました。 走査型電子顕微鏡の高分解能イメージングおよび集束イオンビームのミリング機能を兼ね備えており、高品質な表面下解析と3D解析が可能です。 元素分析装置(EDS)も付属しているため検出元素の3D解析も行えます。 本装置について詳しく知りたいとき、分析および加工の依頼やご相談などがあればお気軽にお問い合わせください。 ●メール:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp ●電話番号:047-391-2298

2023年03月03日

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企業名 セイコーフューチャークリエーション株式会社
連絡先〒270-2222 千葉県松戸市高塚新田563地図で見る TEL:047-391-2298 FAX:047-392-3238
業種 試験・分析・測定
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