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センサー部がケーブルで本体から分かれているため複雑な形状の表面でも測定ができます。
2つの校正モードを搭載、正確に膜厚を測定 高精度測定±（2％+ 2 µm） 設定値を超えるとアラームでお知らせ 最大値、最小値、標準偏差、平均値を表示 自動電源OFF機能付き(3分後)、省電力型 通常の測定モードに加え、連続測定モードを搭載 液晶ディスプレイ上に大きな文字で測定値を見やすく表示 電池残量アイコン表示で、充電の目安をお知らせ
集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の 分析ができます。 【特長】 ■大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析・膜厚測定 ■ポリキャピラリ―レンズの採用 ■非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能 ■校正なしで単体サンプルや多層膜の分析ができる ■ユーザフレンドリーな卓上型 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
