非接触 膜厚測定装置 FTMD
非接触で不織布などの繊維の膜厚測定 〜サンプル測定実施中〜
透過光を利用してナノファイバー不織布の厚みムラを検出 ○非接触リアルタイム高速計測 ○繊維の表面形状を３D表示 ○ターゲットに即したファイバセンサを交換可能
- 企業：九州計測器株式会社
- 価格：100万円 ~ 500万円
膜厚測定器 - メーカー・企業32社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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膜厚測定器のメーカー・企業ランキング
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- 株式会社ケツト科学研究所 東京都/試験・分析・測定
- 株式会社フィッシャー・インストルメンツ 埼玉県/試験・分析・測定
- 株式会社キーエンス 大阪府/産業用電気機器
- 4 伊藤忠マシンテクノス株式会社 東京都/産業用機械
- 5 株式会社アントンパール・ジャパン 東京都/試験・分析・測定
膜厚測定器の製品ランキング
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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- 粒数測定や結果解析は、人間を超える速さ！穀粒判定器 RN-700 株式会社ケツト科学研究所
- 分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ 株式会社キーエンス
- 【膜厚測定機】カロテスト(CAT) 株式会社アントンパール・ジャパン
- Lumetrics 非接触多層膜厚測定器『OPTIGAUGE』 伊藤忠マシンテクノス株式会社
- 4 画像分析でお米のクレームを防ぐ！穀粒判定器RN-700 株式会社ケツト科学研究所
膜厚測定器の製品一覧
1～15 件を表示 ／ 全 58 件
表示件数
インライン向け膜厚測定装置
フィルムや板状の膜厚を非破壊的にライン測定
まず、各装置構成部がシンプルにできており、各御客様のニーズに対し、カスタマイズしたパッケージングでご紹介が可能であり、コストダウンにも最適かと思われます。測定算出方法もFFT法という信頼性の高い方法を採用しておりますので安心してデータ収集できます。
- 企業：株式会社スペクトラ・コープ
- 価格：500万円 ~ 1000万円
粒数測定や結果解析は、人間を超える速さ！穀粒判定器 RN-700
お米を広げてセットするだけ！簡単で的確な粒質判定が可能な穀粒判定器。光源を変えながら撮影し、撮影した複数枚の画像を処理します。
『RN-700』は、新開発の画像認識エンジンを搭載した穀粒判定器です。 トレイ上の米を光源を変えながら撮影し、撮影した複数枚の画像を処理。 米一粒ごとの粒質を判定します。 操作は、トレイに米を広げてセットするだけです。 自動的に結果の出力まで行われます。正確さは検査員の眼を目標とし、 粒数測定や結果の解析は、人間を超える速さを備えています。 【特長】 ■3枚の撮影で的確 ■判定結果は用途に合わせて (本体ディスプレイ・内蔵プリンタ印字列・背面パネルと外部出力) ■判定結果の詳細もすぐに確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ケツト科学研究所
- 価格：応相談
べちゃつくご飯を炊く前にチェック！穀粒判定器RN-700
砕けたお米（砕粒）や亀裂の入ったお米は、炊飯時のべちゃつきの原因に。割合を測って未然防止。
砕けたお米は炊飯時にでんぷんが流出し、べっちゃりと食感が悪くなる要因となります。 精米の受入検査や炊飯前の確認で、砕粒・亀裂粒の割合を測定することは炊飯時のトラブル・クレーム回避につながります。 ◇トレイにサッと広げて、差し込むだけの簡単操作 ◆PCソフトで1粒1粒の画像データを確認可能※オプション ◇全国の米穀卸・精米工場をはじめ多数導入 デモ器で精度・操作感をお確かめいただけます。 ご希望の方は「お問い合わせ」まで。
- 企業：株式会社ケツト科学研究所
- 価格：50万円 ~ 100万円
『膜厚測定器』
研究用途のみならず生産現場での使用を見越した膜厚測定器
『膜厚測定器』は、オーテックスが取り扱うTHETA METRISIS社の製品です。 白色反射分光によるナノレンジからミクロンレンジの膜厚測定システムで、 持ち運び便利なポータブルタイプから大型の据置きタイプまで 用途にあわせ多くの機種が選択できます。 高温化、液中、顕微鏡取り付けタイプ、ガスチャンバー、フローセル等 測定に必要とされる数多くのモジュールをご用意。 研究用途のみならず、生産現場での使用を見越した製品です。 【特長】 ■白色反射分光によるナノレンジからミクロンレンジの膜厚測定システム ■用途にあわせ多くの機種から選択可能 ■数多くのモジュールをご用意 ■研究用途や生産現場で使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：オーテックス株式会社
- 価格：応相談
蛍光X線方式膜厚測定器 XULM
測定チャンバの下にＸ線源と検出器を配置しており、測定物を簡単かつ直接ポジショニング
X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
高性能膜厚測定器『DUALSCOPE FMP100』
FMPシリーズ上位機種の高性能なハンディー型膜厚計、広範な種類の評価や統計処理機能、画面にはタッチパネル搭載
『DUALSCOPE FMP100』は、品質管理において優れた性能を発揮できる 携帯タイプの膜厚測定器です。 当製品のキーパッドつき高解像度タッチスクリーンは、スタイラスや指で 操作ができます。 また、広範囲の高性能プローブが使用でき、高品位アプリケーション用の 特殊プローブをはじめ、様々な種類が使用できます。 【特長】 ■品質管理において優れた性能を発揮 ■キーパッドつき高解像度タッチスクリーンを搭載 ■数千種類の測定アプリケーションのキャリブレーション・パラメターを記憶可能 ■FMP150：3種類(渦電流式・電磁式磁気式ホール効果)の測定方式が1台で使用できる ■広範囲の高性能プローブが使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
フィッシャージャパン 製品カタログ
ハンディータイプ、卓上型などの膜厚測定と材料試験機を多数掲載！
『フィッシャージャパン 製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁式、渦電流式で非破壊方式で膜厚を測定するハンディタイプの 「DELTASCOPE FMP10/FMP30」や、卓上型のマルチ測定システム 「FISCHERSCOPE MMS PC2」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■知識・能力・経験、それらに基づいた信頼 ■膜厚測定と材料試験 ■膜厚測定と材料分析 ■材料試験 ■微小硬さ測定 ほか ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』持ち運び可能！
高精度かつ高い検出感度！現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定・素材分析機器】
『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます。 高精度で長期安定性がFISCHERSCOPE X-RAYシステムの大きな特長で、 キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。 【特長】 ■現場に携帯し測定できる ■シリコンドリフト検出器搭載 ■高精度かつ高い検出感度 ■小型部品や複雑な形状の測定にも対応 ■時間と手間が削減できる 対象例：貴金属・金属・メッキ関連 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』
集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の 分析ができます。 【特長】 ■大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析・膜厚測定 ■ポリキャピラリ―レンズの採用 ■非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能 ■校正なしで単体サンプルや多層膜の分析ができる ■ユーザフレンドリーな卓上型 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ
- 価格：応相談
銅めっき膜厚測定機『キャビダーム』 ハンディタイプで手軽に測定！
様々なポイントで自動化可能！ 銅の膜厚を瞬時に測定可能・高度な統計処理で生産効率UPの可能性がここにある！
銅めっき膜厚の全数検査、全自動測定はいかがですか？ ハンディタイプ銅めっき膜厚測定機 「キャビダーム」は、めっき工程、最終検査工程、入荷検査など、様々なポイントで自動化が可能です。 【特徴】 ○測定は、瞬時に行われる ○専用プローブは基板にキズを付けることはない ○PCへＵＳＢケーブルを接続し高度な統計処理を行うことが可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
- 企業：株式会社サーマプレシジョン
- 価格：応相談
水銀プローブCV/IV測定装置『MCVシリーズ』
水銀プローブにより電極の形成が不要！R&Dにおける開発時間の短縮、Lowコスト化を提供
『MCV-530/530L/2200/2500』は、半導体シリコンウェハーの電気特性や MOSデバイスの酸化膜等の特性評価を可能にする装置です。 従来ではウェハーにゲート電極としてPoly-SiやAl等を蒸着し、MOS構造・ ショットキー構造形成後にCV/IV特性評価を行っておりました。 当製品は、装置自身がゲート電極を持つため、メタルゲート作成なしに 酸化膜やウェハーの電気特性を得ることが可能。プロセスモニタリングによる 素早いフィードバックやR&Dにおける開発時間の短縮、Lowコスト化を 提供します。 【特長】 ■水銀プローブにより電極の形成が不要 ■抜群の再現性 ・ショットキー：0.3％(1σ）／MOS：0.1％(1σ） ■ウェハー面内のマッピング可 ■新開発水銀交換機構により安全かつ容易な水銀交換が可 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本セミラボ株式会社 新横浜本社
- 価格：応相談
複合SEM-AFMシステム
表面とナノ構造を測定する機能！ミリメートルから原子レベルまでをカバーします
走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、既存のシステムを 簡単なドア交換で更新できます。 【特長】 ■SEMとFIBはカンチレバーチップで交差 ■3つの全手法の複合測定を空間内・サンプル上の完全に同じ点で実行可能 ■単一原子の3D分解能を実現するよう設計 ■5mmの最小SEM作動距離を維持しながら、SEMで0°～85°の視野角を使用可能 ■FIBによるin-situのチップ先鋭化をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本セミラボ株式会社 新横浜本社
- 価格：応相談
エピ膜厚測定装置『EIR-2500』
IR反射率測定ヘッドを使用可能！高スループットのエピ膜厚測定を実現した測定装置
『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装置の稼働時間を向上してメンテナンスの必要性を減らします。 【特長】 ■ウェハーサイズ：4～12インチ ■Si, SOI, SiC, SiGe, III Vなど ■FTIR機能 ■エピ膜厚を高精度測定 ■遷移領域の膜厚測定 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本セミラボ株式会社 新横浜本社
- 価格：応相談
【膜厚測定機】カロテスト(CAT)
迅速で簡単なコーティング膜厚測定機
カロテストは、迅速、簡単、安価にコーティング膜厚を測定できる装置です。 ボールにより形成された研磨痕を測定するシンプルな方法で、単層から多層まで、厚さ0.1μｍ～50μmの幅広いコーティング膜を迅速かつ正確に検査できます。 さらにオプションの測定用ソフトウェアを利用すれば研磨痕の観察からライン測定による膜厚計算まで簡単に分析することができます。 ラインナップはコンパクトタイプと比較的大きいサンプル測定用のインダストリアルタイプ、コンパクトとインダストリアルが組み合わされたコンボタイプがあります。
- 企業：株式会社アントンパール・ジャパン
- 価格：応相談
