分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ
単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった<厚みムラ>が分かるフィルム厚み測定器 誕生
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定
- 企業:株式会社キーエンス
- 価格:応相談
1~4 件を表示 / 全 4 件
単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった<厚みムラ>が分かるフィルム厚み測定器 誕生
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定
お手持ちのPCに接続可能!12μm~16mmの厚さをインラインで簡単測定!
非接触多層膜厚測定器『OPTIGAUGE』は、12μm〜16mmまでの膜厚を 「インライン」&「±0.1μmの高精度」&「1秒間に200測定の高速*」で 測れる厚み計です。*標準は50計測 性能はそのままに、導入しやすい低価格帯の2機種を発売開始しました。 □■多層膜厚測定器『OPTIGAUGE 2』■□ 【特長】 ○新仕様でお手持ちのPCに接続可能!扱いの簡易化を実現 ○1秒間に最大200測定可能(標準 50測定/秒) ○インラインでリアルタイムに厚み測定しロス軽減 ○多層厚みを層順に厚み表示可能 ○精度±0.1μm、繰り返し性0.1μmσで確実に測定 ○1台に8点までプローブを増設できて効率的 ○光ファイバーケーブルは1000mまで延長可能 ○長寿命光源を採用し、メンテナンスが不要 など、スピーディな製品開発・品質管理を実現します。 そこまでの計測精度は求めない!という方は ⇒ 機能を制限した、より導入しやすい入門モデルもご用意しています。 多層膜厚測定器『OPTIGAUGE LT』をご覧ください。 ※製品詳細はカタログダウンロードよりご覧頂けます。
不透明・半透明の多層プラスチックの各層厚みを、テラヘルツ光の反射遅延時間から測定します。
【特長】 ・単層および多層プラスチックボトルおよび容器の個々の層の厚さを測定 ・最大10層まで測定可能 ・多層構造内の極薄バリア層を探しだし、膜厚を測定 ・断面を計測する時のように切断不要 ・手間と時間を節約しつつ、これまでにないレベルの高精度と再現性を実現
センサヘッド分離型でインライン測定装置にも組込可能
【特長】 ・高精度多層膜厚計測 ・膜中のボイド検出 ・高精度坪量測定 ・非破壊測定 ・不透明および半透明材料の測定 ・非接触&高速測定 ・非電離放射線