多層膜厚測定器×株式会社キーエンス - 企業1社の製品一覧

分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ

単層から多層までインラインで安定測定　今まで見れなかった＜厚みムラ＞が分かるフィルム厚み測定器　誕生

■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定

• 企業：株式会社キーエンス
• 価格：応相談

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