膜厚測定器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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膜厚測定器 - メーカー・企業32社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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膜厚測定器のメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社ケツト科学研究所 東京都/試験・分析・測定
  2. 株式会社フィッシャー・インストルメンツ 埼玉県/試験・分析・測定
  3. 株式会社キーエンス 大阪府/産業用電気機器
  4. 4 伊藤忠マシンテクノス株式会社 東京都/産業用機械
  5. 5 株式会社アントンパール・ジャパン 東京都/試験・分析・測定

膜厚測定器の製品ランキング

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  1. 粒数測定や結果解析は、人間を超える速さ!穀粒判定器 RN-700 株式会社ケツト科学研究所
  2. 分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ 株式会社キーエンス
  3. 【膜厚測定機】カロテスト(CAT) 株式会社アントンパール・ジャパン
  4. Lumetrics 非接触多層膜厚測定器『OPTIGAUGE』 伊藤忠マシンテクノス株式会社
  5. 4 画像分析でお米のクレームを防ぐ!穀粒判定器RN-700 株式会社ケツト科学研究所

膜厚測定器の製品一覧

31~45 件を表示 / 全 58 件

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小型非接触式測定器 『オプトフラッシュ』

数秒で高精度非接触測定を実現 <ワークのテスト計測可能(お問い合わせください)>

オプトフラッシュは、光学画像を取得し解析することで高精度な測定を実現します。 自動車、一般製造、航空宇宙、医療など高い精度が求められる小型部品の生産現場で高速且つ正確な測定を可能にします。電気モーターシャフト、電子コネクター、油圧回路コンポーネント、ネジなどの寸法確認に好適です。 <主な特徴> 1. 超高速 ・2D光学技術により、サイクルタイムの短縮が実現 ・サイクルタイムは驚くほど高速。100回の静的測定をわずか2秒で実行 2. 高い柔軟性 ・ボルトから小型シャフトまで多彩な形状の測定が可能 ・外径、長さ、真円度、円筒度、同軸度、テーパー、溝、面取り、R(形状)、軸振れ、ネジ寸法などの静的測定と動的測定を数秒で実現 3. 使いやすさ ・測定画面はユーザーフレンドリーながら、マルチレベルアクセス機能を備え、オペレーターの作業内容や権限に合わせたレベル設定が可能 ・扉の無いオープンローディングによりロボット対応ができ、作業者を介さない自動化も可能 4. 耐久性 ・2Dセンサーの位置固定で機械的なストレスなし。測定性能は数百万サイクルにわたり一貫して安定 ・メンテナンスの必要性も最小限

  • OF_XS.jpg
  • OF_Screw.jpg
  • OF_Turbo Charger.jpg
  • OF_Measurement Result.jpg
  • その他計測・記録・測定器
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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インライン向け非接触膜厚測定装置

金属コイル、金属コンテナ上の透明膜、不透明膜、ウェット膜、ドライ膜の厚みを非接触で測定します。

・インライン対応(ばたつきがあっても問題なし)      ・非接触で塗料、コーティング剤の厚みを測定 (測定可能膜厚:0.2~250um) ・ウェット膜、ドライ膜の両方を測定可能        ・塗料/コーティング剤のコストを削減可能       ・生産スループットの向上                                                                                   

  • 膜厚計
  • 重量関連測定器

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膜厚測定装置『LF-1000』

ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置

『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接触で、透明もしくは半透明の薄膜の膜厚、屈折率及び吸収係数を簡単に 自動測定及びマッピング処理する事が出来ます。 【特長】 ■ウェハ・ガラス基板だけでなく、その他の鏡面基板上の膜厚測定が可能 ■膜の光学定数を設定する事で、各種の膜厚測定が測定可能 ■薄膜酸化膜、SOI、EG膜、カラーフィルター等の測定に優れる ■標準として3・4・5・6・8・12インチウェハに対応したオートステージ ■ローダ仕様にもオプションで対応可能(カセット・FOUP、ポート数にも応相談) ■測定ヘッド仕様よって、薄膜から厚膜の膜厚測定に対応 ■GEM通信はオプション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器

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非接触CV測定装置 Cn0CV

非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現!

世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。 化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能です。

  • その他検査機器・装置

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非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定!

半導体デバイスの製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチャージ密度が 測定できます。 【特長】 ■マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定 ■高周波デバイス特性のスタンダード測定装置 ■ホール効果による測定結果との高い相関性 ■マルチキャリア・モデリングオプション ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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自動膜厚測定装置 KV-300 / KF-10

500μm厚までの厚膜レジストやポリイミドを非接触で高精度測定。

自動レジスト膜厚測定装置 KV-300/KF-10は従来安定した膜厚測定が困難とされていた超厚膜レジストを非接触で高精度な測定ができます。標準搭載の自動マッピング機能は、高精度自動ステージにより基板の面内膜厚分布をスピーディに表示します。KV-300は、自動R-θステージ採用により、300mm基板に対応しながらもフットプリントを最小限に抑えた設計になっています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • その他プロセス制御
  • その他計測・記録・測定器

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非接触NDVI測定装置『NDVI-2』

非接触でNDVIを測定します!

『NDVI-2』は、非接触、非破壊で経時的に測定できる 植物活性度計や植物しおれ計としてお使いいただける測定装置です。 測定用のトリガーを引くとレーザーが2点照射され、照射された2点間の 円の中の660nmと840nm波長域の反射率を測定しNDVIを非接触で測定します。 また、上部に付いているセンサーが標準白色板の役割を果たしているため、 光源が変化しても正確な反射率を元にNDVIを測定可能です。 【仕様】 ■測定方式:660nmと840nmの反射率 ■測定範囲:距離[最大]183cm[最小]28.4cm、測定直径[最大]18.8cm[最小]1.1cm ■測定単位:-1~1 指数で表示 ■メモリー:3250個(GPS無しの場合)、1350個(GPS有りの場合) ■測定誤差:読みの±5% ■重さ:0.7kg ■電源:単3アルカリ電池 2本 3000測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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非接触型測定機

“カーボン治具のパイオニア” 曙精機工業の非接触型測定機事例です

平面的な治工具から半導体部品をカーボン(グラファイト)治具に組み込む立体的な省力化装置の設計・製作まで「縁の下の力持ち」として、お客様のニーズに対応いたします。

  • 加工治具
  • 検査治具
  • 組立治具

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光干渉式膜厚測定装置『Model3100』

多数の納入実績を誇る業界標準機!リニアアレー受光素子を採用

『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な 各種膜構造の膜厚測定ができます。 【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション)にて酸化膜換算で70μmまで測定可能 ■100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■さまざまなアプリケーション(磁気ヘッド、FPD、材料研究等)に対応し、  用途別に試料台作成可能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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設計·製造サービス D&MS

高速画像処理と高品質など多様な要望に対して柔軟に対応

車載用、医療、軍事およびITS(高度道路交通システム)の応用分野により、高速画像処理や高品質など多様な要望に対して柔軟に対応する。

  • その他

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テラヘルツ波・多層膜厚測定装置 【PlastiMeasure】

不透明・半透明の多層プラスチックの各層厚みを、テラヘルツ光の反射遅延時間から測定します。

【特長】 ・単層および多層プラスチックボトルおよび容器の個々の層の厚さを測定 ・最大10層まで測定可能 ・多層構造内の極薄バリア層を探しだし、膜厚を測定 ・断面を計測する時のように切断不要 ・手間と時間を節約しつつ、これまでにないレベルの高精度と再現性を実現

  • 膜厚計

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テラヘルツ波・多層膜厚測定装置(センサヘッド分離型)

センサヘッド分離型でインライン測定装置にも組込可能

【特長】 ・高精度多層膜厚計測 ・膜中のボイド検出 ・高精度坪量測定 ・非破壊測定 ・不透明および半透明材料の測定 ・非接触&高速測定 ・非電離放射線

  • 膜厚計

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【水分測定に特化した低価格モデル】近赤外成分計/水分計

バッチ式からの工数削減に!リアルタイムに成分値変動を監視可能。穀物・豆類・加工品や繊維・不織布の水分・タンパク質・脂肪分測定に。

近赤外線は熱をほとんど持たず、対象物の物性に変化を与えないため、 器械を生産ラインに組み込むことで、リアルタイムかつ連続的に 成分値変動を監視することができます。 測定対象に応じて5波長・7波長から選択可能な近赤外成分計 「KJT-700」をはじめ、水分測定に特化した近赤外水分計「KB-30」 などをラインアップ。 食料全般、医薬品、紙、鉱石、建材など幅広い対象にご使用いただけます。 【特長】 ■非破壊・非接触 ■リアルタイムの成分分析 ■フィルター分光方式 ■かんたん操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他理化学機器
  • その他計測・記録・測定器

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穀粒判定機『RN-700』

玄米・精米の流失はザっと広げて、パッと知る。

『RN-700』は、新開発の画像認識エンジンを搭載した穀粒判定機です。 トレイ上の米を光源を変えながら撮影し、撮影した複数枚の画像を処理。 米一粒ごとの品質を解析します。 操作は、トレイに米を広げてセットするだけで、自動的に結果の出力まで 行われます。 【特長】 ■透過光、反射光、スポット透過光の3枚の画像を撮影 ■屋外でもハッキリ見やすい有機ELディスプレイ ■SDカードへの保存やPCへの接続が可能 ■粒種ごとの粒数と割合が本体に表示 ■一粒ごとの品質だけでなく寸法(長さ、幅、面積)も測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 食品試験/分析/測定機器
  • 分析機器・装置

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非接触 XYマッピング計測 赤外線式厚さ測定機 膜厚測定機

赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー!」

<XYマッピング測定可能> ワークをXY移動しながらマッピング計測可能 <すぐに使える操作性>  基準片から検量線を自動作成します  すぐに計測開始可能です <メンテナンスフリー>  光源・線源等、短期交換部品はありません

  • 膜厚計

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