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虫食い跡、砕けたお米、亀裂の入ったお米など、玄米・精米のクレーム要因となる外観品質を評価。割合を数値化して納得取引に。
虫食い跡などは見た目が悪く、砕けたお米はべっちゃりと食感が悪くなり、クレームの要因となります。 外観品質を目視判断するにも、見る人や光の加減で差があり、取引時の食い違いにつながります。 穀粒判定器RN-700は、器械による客観的・標準的な”ものさし”として、項目ごとに粒数・割合で数値化できます。 お米を買うとき・売るときの評価基準として測定値を活用いただけます。 ◇トレイにサッと広げて、差し込むだけの簡単操作 ◆PCソフトで1粒1粒の画像データを確認可能※オプション ◇全国の米穀卸・精米工場をはじめ多数導入 ◆農林水産省より「機械鑑定を前提とした農産物検査規格」の仕様確認 デモ器で精度・操作感をお確かめいただけます。 ご希望の方は「お問い合わせ」まで。
単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった＜厚みムラ＞が分かるフィルム厚み測定器 誕生
■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定
裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定
【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレイを搭載した頑丈な筐体を採用。また、光・音・振動による上下限値設定時のフィードバック通知機能、交換可能なリチウムイオンバッテリー、USBまたはBluetoothによるPC通信を可能としてデータ転送や測定値評価など、数多くの機能を搭載。 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
![[フィッシャー・インストルメンツ]SR-SCOPE.jpg](https://image.mono.ipros.com/public/product/image_sub/922/1766356/IPROS42036437814517654800.jpeg?w=280&h=280){kind=small}
お手持ちのPCに接続可能！12μm～16mmの厚さをインラインで簡単測定！
非接触多層膜厚測定器『OPTIGAUGE』は、12μm〜16mmまでの膜厚を 「インライン」＆「±0.1μmの高精度」＆「1秒間に200測定の高速＊」で 測れる厚み計です。＊標準は50計測 性能はそのままに、導入しやすい低価格帯の2機種を発売開始しました。 □多層膜厚測定器『OPTIGAUGE 2』□ 【特長】 ○新仕様でお手持ちのPCに接続可能！扱いの簡易化を実現 ○1秒間に最大200測定可能（標準 50測定／秒） ○インラインでリアルタイムに厚み測定しロス軽減 ○多層厚みを層順に厚み表示可能 ○精度±0.1μm、繰り返し性0.1μmσで確実に測定 ○1台に8点までプローブを増設できて効率的 ○光ファイバーケーブルは1000mまで延長可能 ○長寿命光源を採用し、メンテナンスが不要 など、スピーディな製品開発・品質管理を実現します。 そこまでの計測精度は求めない！という方は ⇒ 機能を制限した、より導入しやすい入門モデルもご用意しています。 多層膜厚測定器『OPTIGAUGE LT』をご覧ください。 ※製品詳細はカタログダウンロードよりご覧頂けます。
数秒で高精度非接触測定を実現 ＜ワークのテスト計測可能（お問い合わせください）＞
オプトフラッシュは、光学画像を取得し解析することで高精度な測定を実現します。 自動車、一般製造、航空宇宙、医療など高い精度が求められる小型部品の生産現場で高速且つ正確な測定を可能にします。電気モーターシャフト、電子コネクター、油圧回路コンポーネント、ネジなどの寸法確認に好適です。 ＜主な特徴＞ 1. 超高速 ・2D光学技術により、サイクルタイムの短縮が実現 ・サイクルタイムは驚くほど高速。100回の静的測定をわずか2秒で実行 2. 高い柔軟性 ・ボルトから小型シャフトまで多彩な形状の測定が可能 ・外径、長さ、真円度、円筒度、同軸度、テーパー、溝、面取り、R(形状)、軸振れ、ネジ寸法などの静的測定と動的測定を数秒で実現 3. 使いやすさ ・測定画面はユーザーフレンドリーながら、マルチレベルアクセス機能を備え、オペレーターの作業内容や権限に合わせたレベル設定が可能 ・扉の無いオープンローディングによりロボット対応ができ、作業者を介さない自動化も可能 4. 耐久性 ・2Dセンサーの位置固定で機械的なストレスなし。測定性能は数百万サイクルにわたり一貫して安定 ・メンテナンスの必要性も最小限
金属コイル、金属コンテナ上の透明膜、不透明膜、ウェット膜、ドライ膜の厚みを非接触で測定します。
・インライン対応（ばたつきがあっても問題なし） ・非接触で塗料、コーティング剤の厚みを測定 (測定可能膜厚：0.2～250um) ・ウェット膜、ドライ膜の両方を測定可能 ・塗料/コーティング剤のコストを削減可能 ・生産スループットの向上
ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置
『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接触で、透明もしくは半透明の薄膜の膜厚、屈折率及び吸収係数を簡単に 自動測定及びマッピング処理する事が出来ます。 【特長】 ■ウェハ・ガラス基板だけでなく、その他の鏡面基板上の膜厚測定が可能 ■膜の光学定数を設定する事で、各種の膜厚測定が測定可能 ■薄膜酸化膜、SOI、EG膜、カラーフィルター等の測定に優れる ■標準として3・4・5・6・8・12インチウェハに対応したオートステージ ■ローダ仕様にもオプションで対応可能(カセット・FOUP、ポート数にも応相談） ■測定ヘッド仕様よって、薄膜から厚膜の膜厚測定に対応 ■GEM通信はオプション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現！
世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。 化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能です。
様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能！マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定！
半導体デバイスの製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体（GaAs、GaN、InP等） epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチャージ密度が 測定できます。 【特長】 ■マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定 ■高周波デバイス特性のスタンダード測定装置 ■ホール効果による測定結果との高い相関性 ■マルチキャリア・モデリングオプション ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
500μm厚までの厚膜レジストやポリイミドを非接触で高精度測定。
自動レジスト膜厚測定装置 KV-300/KF-10は従来安定した膜厚測定が困難とされていた超厚膜レジストを非接触で高精度な測定ができます。標準搭載の自動マッピング機能は、高精度自動ステージにより基板の面内膜厚分布をスピーディに表示します。KV-300は、自動R-θステージ採用により、300mm基板に対応しながらもフットプリントを最小限に抑えた設計になっています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
非接触でNDVIを測定します！
『NDVI-2』は、非接触、非破壊で経時的に測定できる 植物活性度計や植物しおれ計としてお使いいただける測定装置です。 測定用のトリガーを引くとレーザーが2点照射され、照射された2点間の 円の中の660nmと840nm波長域の反射率を測定しNDVIを非接触で測定します。 また、上部に付いているセンサーが標準白色板の役割を果たしているため、 光源が変化しても正確な反射率を元にNDVIを測定可能です。 【仕様】 ■測定方式：660nmと840nmの反射率 ■測定範囲：距離[最大]183cm[最小]28.4cm、測定直径[最大]18.8cm[最小]1.1cm ■測定単位：-1～1 指数で表示 ■メモリー：3250個（GPS無しの場合）、1350個（GPS有りの場合） ■測定誤差：読みの±5% ■重さ：0.7kg ■電源：単3アルカリ電池 2本 3000測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
“カーボン治具のパイオニア” 曙精機工業の非接触型測定機事例です
平面的な治工具から半導体部品をカーボン（グラファイト）治具に組み込む立体的な省力化装置の設計・製作まで「縁の下の力持ち」として、お客様のニーズに対応いたします。
多数の納入実績を誇る業界標準機！リニアアレー受光素子を採用
『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な 各種膜構造の膜厚測定ができます。 【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション)にて酸化膜換算で70μmまで測定可能 ■100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■さまざまなアプリケーション(磁気ヘッド、FPD、材料研究等)に対応し、 用途別に試料台作成可能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
断熱材を面一で施工することで熱橋防止！木ネジ付き断熱ファスナー
◆適応母材 ・3層ソリッドウッド ・MDF合板 ・OSB合板 ◆機能および使用方法 ・面一取付け用に標準のトルクスT30ビットにてファスナーを施工。 ・専用工具T T Sを使用して埋める施工。 正確な施工位置用にファスナーをねじ込む。 座ぐり部は別売のCapを挿入し、断熱材の表面と面一。 ・専用工具T T Sのディスクを回転させて断熱材の表面と面一。 ファスナーを深過ぎずに施工。
薄鉄板用にデルタ-シール コーティングのセルフドリルスクリュー付き建設用スクリューファスニング
◆適用母材 ・薄鉄板／台形金属シート 最大厚1.5mm ◆機能および使用方法 ・下穴無しで断熱材を通して現物合せ施工。 ・適切なドライバービットは欧州タイプPhillips 2番。 ・コードレス電動インパクトドライバーにて迅速で簡単な施工。 ・接着層のような無負荷層を含む総厚。
