更新日： 集計期間:2025年07月30日～2025年08月26日
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研究用途のみならず生産現場での使用を見越した膜厚測定器
『膜厚測定器』は、オーテックスが取り扱うTHETA METRISIS社の製品です。 白色反射分光によるナノレンジからミクロンレンジの膜厚測定システムで、 持ち運び便利なポータブルタイプから大型の据置きタイプまで 用途にあわせ多くの機種が選択できます。 高温化、液中、顕微鏡取り付けタイプ、ガスチャンバー、フローセル等 測定に必要とされる数多くのモジュールをご用意。 研究用途のみならず、生産現場での使用を見越した製品です。 【特長】 ■白色反射分光によるナノレンジからミクロンレンジの膜厚測定システム ■用途にあわせ多くの機種から選択可能 ■数多くのモジュールをご用意 ■研究用途や生産現場で使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FMPシリーズ上位機種の高性能なハンディー型膜厚計、広範な種類の評価や統計処理機能、画面にはタッチパネル搭載
『DUALSCOPE FMP100』は、品質管理において優れた性能を発揮できる 携帯タイプの膜厚測定器です。 当製品のキーパッドつき高解像度タッチスクリーンは、スタイラスや指で 操作ができます。 また、広範囲の高性能プローブが使用でき、高品位アプリケーション用の 特殊プローブをはじめ、様々な種類が使用できます。 【特長】 ■品質管理において優れた性能を発揮 ■キーパッドつき高解像度タッチスクリーンを搭載 ■数千種類の測定アプリケーションのキャリブレーション・パラメターを記憶可能 ■FMP150：3種類(渦電流式・電磁式磁気式ホール効果)の測定方式が1台で使用できる ■広範囲の高性能プローブが使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハンディータイプ、卓上型などの膜厚測定と材料試験機を多数掲載！
『フィッシャージャパン 製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁式、渦電流式で非破壊方式で膜厚を測定するハンディタイプの 「DELTASCOPE FMP10/FMP30」や、卓上型のマルチ測定システム 「FISCHERSCOPE MMS PC2」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■知識・能力・経験、それらに基づいた信頼 ■膜厚測定と材料試験 ■膜厚測定と材料分析 ■材料試験 ■微小硬さ測定 ほか ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
迅速で簡単なコーティング膜厚測定機
カロテストは、迅速、簡単、安価にコーティング膜厚を測定できる装置です。 ボールにより形成された研磨痕を測定するシンプルな方法で、単層から多層まで、厚さ0.1μｍ～50μmの幅広いコーティング膜を迅速かつ正確に検査できます。 さらにオプションの測定用ソフトウェアを利用すれば研磨痕の観察からライン測定による膜厚計算まで簡単に分析することができます。 ラインナップはコンパクトタイプと比較的大きいサンプル測定用のインダストリアルタイプ、コンパクトとインダストリアルが組み合わされたコンボタイプがあります。
高い精度・抜群の安定性を保持！様々な分野で使用され、絶大な信頼を得ています
当社では、ヘルムート・フィッシャー社製『膜厚測定器』を取扱っております。 正確だから、塗料のムダ使いを抑制。金、銀などの高価な材料の正しい純度を 計測できます。 非接触かつ応答速度も速く、連続測定が可能です。 【特長】 ■正確だから「塗料のムダ使い」を抑制 ■金、銀 などの「高価な材料」の正しい純度を計測できる ■非接触かつ応答速度も速く、連続測定が可能 ■使いやすく誰にでも、測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置
『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接触で、透明もしくは半透明の薄膜の膜厚、屈折率及び吸収係数を簡単に 自動測定及びマッピング処理する事が出来ます。 【特長】 ■ウェハ・ガラス基板だけでなく、その他の鏡面基板上の膜厚測定が可能 ■膜の光学定数を設定する事で、各種の膜厚測定が測定可能 ■薄膜酸化膜、SOI、EG膜、カラーフィルター等の測定に優れる ■標準として3・4・5・6・8・12インチウェハに対応したオートステージ ■ローダ仕様にもオプションで対応可能(カセット・FOUP、ポート数にも応相談） ■測定ヘッド仕様よって、薄膜から厚膜の膜厚測定に対応 ■GEM通信はオプション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー！」
＜ＸＹマッピング測定可能＞ ワークをXY移動しながらマッピング計測可能 ＜すぐに使える操作性＞ 基準片から検量線を自動作成します すぐに計測開始可能です ＜メンテナンスフリー＞ 光源・線源等、短期交換部品はありません
センサー部がケーブルで本体から分かれているため複雑な形状の表面でも測定ができます。
2つの校正モードを搭載、正確に膜厚を測定 高精度測定±（2％+ 2 µm） 設定値を超えるとアラームでお知らせ 最大値、最小値、標準偏差、平均値を表示 自動電源OFF機能付き(3分後)、省電力型 通常の測定モードに加え、連続測定モードを搭載 液晶ディスプレイ上に大きな文字で測定値を見やすく表示 電池残量アイコン表示で、充電の目安をお知らせ
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。 独自の分光干渉法と新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定することが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
