真空型赤外分光システムを用いたIRRAS法による有機単分子膜解析
【無料プレゼント】SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。
有機分子の化学吸着によって形成される単分子膜、SAMに関する 研究が注目されています。 当社製品は、試料の設置後、2～3分で分光内部を真空にすることができ、 短時間で測定を開始することが可能です。 当資料では、大気の影響を除去できる真空型FT-IRを用いたIRRAS法 による、SAM修飾基板に関する解析について掲載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■試料 ■装置 ■結果 ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
