【半導体向け】クイントソニックTによる薄膜測定
半導体製造における薄膜の膜厚測定をサポート
半導体業界では、製品の品質管理において、薄膜の正確な膜厚測定が不可欠です。薄膜の厚さは、デバイスの性能に直接影響するため、正確な測定と管理が求められます。膜厚のばらつきは、歩留まりの低下や製品の不良につながる可能性があります。クイントソニックTは、非破壊で最大8層までの膜厚を測定し、半導体製造における品質管理を支援します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハ上の薄膜測定 ・コーティング膜厚の測定 ・薄膜デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・非破壊測定による検査時間の短縮 ・最大8層までの膜厚測定による多層膜の管理 ・EXCEL形式でのデータ出力とPDFレポート作成によるデータ管理の効率化
- 企業：株式会社サンコウ電子研究所
- 価格：応相談
