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【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験

内部に空洞が形成！Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹介

アバランシェ破壊の実験環境を社内で構築し、再現実験を行った事例をご紹介いたします。ボンディングワイヤの間に形成されたクレーターに注目し、断面観察と元素マッピングを行いました。その結果、内部に空洞が形成され、Al電極、はんだを溶かした様子が確認できました。【事例概要】 ■再現実験サンプル・RC-IGBT（Reverse-Conducting IGBT） ■非破壊解析・X線観察、超音波探傷 ■詳細解析・断面研磨、FE-SEM、EDS ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。