赤外顕微鏡
透過赤外光の照明調整でIR明視野・暗視野検査での検査ができます
半導体ウエハなど赤外透過材料の内部欠陥を非破壊で可視画像と赤外画像を同時にモニタ検査と上下のパターンズレや内部欠陥の検査ができます。 TSV貫通電極や積層ウエハの表面を可視でモニタとIRフォーカス調整でウエハ内部を同時モニタできます。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。
- 企業:株式会社アイティ・テック
- 価格:応相談
1~3 件を表示 / 全 3 件
透過赤外光の照明調整でIR明視野・暗視野検査での検査ができます
半導体ウエハなど赤外透過材料の内部欠陥を非破壊で可視画像と赤外画像を同時にモニタ検査と上下のパターンズレや内部欠陥の検査ができます。 TSV貫通電極や積層ウエハの表面を可視でモニタとIRフォーカス調整でウエハ内部を同時モニタできます。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。
<中古分析機器>
サーモフィッシャーサイエンティフィック社製の赤外顕微鏡です。 数ミクロンの微小異物などシビアな分析に対応可能です。サーモ社製のFT-IRと組み合わせてお使いいただけます。 (S2656-02)
シンプルなポイント分析、簡単操作、ハイスループット赤外顕微鏡。お客様の課題を迅速に解決します!
『Thermo Scientific Nicolet iN5 顕微FT-IR』は、 直感的かつ簡単な操作を実現しました。 信頼性が高くアライメント不要の光学系、高出力LEDイルミネーション、 接眼鏡またはカメラ(選択可能)によって、サンプル上の関心領域を 明確に特定することが可能。 サンプルに合わせて好適な分析手法(透過、反射、ATR法)を選択し、 迅速に高品質なデータを取得できます。 【特長】 ■複数の可視観察オプションを選択可能 ■高出力LEDによって、明確なサンプルイルミネーションを長期にわたって実現 ■装置前面に配置されたアパーチャによって、分析対象を確実にピンポイントで特定 ■固定の対物レンズによって、常にアライメントされた好適な状態を維持 ■機器手前のフォーカス調整ノブによって、サンプルへの焦点調整を簡単に ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。