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デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供
パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM（走査型顕微鏡法）で評価した事例をご紹介します。 測定法：EMS、SCM、SEM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
「Zemax 光学設計ソフトウェア OpticStudio」で共焦点顕微鏡を正確にモデル化する方法を示し顕微鏡の設計について紹介
共焦点顕微鏡、とくに共焦点レーザー走査型顕微鏡（CLSM）およびレーザー走査共焦点顕微鏡法（LCSM）は、空間ピンホールを使用し結像において焦点が合っていない光を遮断することにより、顕微鏡写真の光学解像度とコントラストを向上させる結像の光学技術です。 当社のホームページでは、「Zemax 光学設計ソフトウェア OpticStudio」で共焦点顕微鏡を正確にモデル化する方法を示すことで顕微鏡の設計について一通り説明しています。 この例で使用されている顕微鏡対物レンズは、Zemax デザインテンプレート「Microscope Objective 60x」（またはZebaseのサンプルファイルK_007）で、OpticStudio 20.2以降のサブスクリプションライセンスのすべての エディションで利用できます。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
