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4つの発振モードを搭載 ムラを抑えた強力な洗浄を実現
■用途に合わせて4つの洗浄モードが選択可能です。 用途に合った洗浄モードを選択することで、安定した洗浄パフォーマンスを発揮します。 ・STANDARD：洗浄ムラの少ない洗浄が行えます。POWERFULとMULTIモードの両方の特徴をバランスよく備えています。 ・POWERFUL：超音波を集中させることで、ガンコな汚れを落とすのに適しています。 ・MULTI：隠れた場所の汚れを効果的に落とす精密洗浄に適しています。 ・BURST：超音波を間欠発振することで、省エネを重視した洗浄が行えます。 ■機能性を兼ね備えたシンプルデザイン 排水バルブ・電源コードの突起がないスッキリとしたフォルムのため設置場所の無駄がありません。スイッチ・電源コードは背面にあるため水がかかりにくいデザインです。 ■ボタン操作で簡単モード切替え タイマー・出力・温度の調整もシンプルなボタン操作で簡単に設定ができます。
音声ガイドと光電スイッチでハンズフリー操作が可能に！ 卓上型で600W、1200Wの大出力モデル。
■卓上型で大出力(600W/1200W) ■大型器具、機械部品などに対応した洗浄が可能となりました。 ■操作部に光電式センサ及び音声ガイドを採用。 ■濡れた手や汚れた手でスイッチに接触せずに音声ガイドにより確認しながら操作できます。 ■発振周波数及び設定した出力にて自動追尾 ■安定した洗浄力が得られます。また、発振異常時用のアラーム表示付です。 ■排水ドレインコック以外にもオーバーフロー用ドレイン取付穴を設置 ■循環システムへの拡張が容易になりました。
FM+AM発振方式で洗浄ムラの軽減と省エネを実現
FM変調…超音波の周波数を連続的に変化させること AM変調…超音波の高周波出力を連続的に変化させること AM変調は、負荷（ワーク、液種、液深）の変動に強く、FM変調は槽内の超音波を均一化し高効率でムラのない洗浄を行うことができます。 ■FM（周波数変調）+AM（出力変調）を採用。 洗浄ムラを軽減した、高効率の省エネタイプです。 ■発振器の寸法および質量は従来機（当社比）の1/3サイズでコンパクト化を実現しました。 ■同一仕様振動子ユニットに交換する場合、発振器の調整が不要で、メンテナンスが容易です。 ■洗浄・処理目的に応じて幅広いパワーコントロールが可能です。
製造ライン、装置組込、省スペース対応の産業用小型洗浄機
■振動子のサイズをご要望のサイズで製作できます。 ■入力電圧（100Vまたは200～230V）・超音波周波数（28/40kHz）の組み合わせを選択できます。 ■外部入力による遠隔操作が可能です。 ■24時間の連続運転に対応しています。
均一洗浄とダメージ低減を両立！ソフトな洗浄からハードな洗浄まで、用途に合わせた最適な洗浄力が得られます
■フルデジタルが可能にした当社独自の”ダイナショックモジュレーション（DM)方式により、ソフトな洗浄からハードな洗浄まで、用途に合わせた最適な洗浄力が得られます。 ※DM（DYNASHOCK MODULATIONの略）方式とは、トータル出力パワーが一定のまま、同一振動子から2周波同時発生する超音波パワー比率（変調度）をコントロールし、ソフトな洗浄からハードな洗浄まで最適な洗浄力を得る発振方式です。 ■DM変調度の選択により、槽全体に高い音圧で均一な超音波を発生し、ムラのない洗浄が可能です。 ■デジタル制御方式により様々な機能を実現しました。 ・最適洗浄の実現：最適な周波数制御と超音波出力の制御により安定した洗浄が可能です。 ・メンテナンス性向上：振動子ユニット交換時、発振器の調整が不要です。 ・幅広い電源入力：電源入力AC200V〜AC240V±10％に対応します。 ・モニタリング機能：前面パネル表示器により出力電力の管理が可能です。 ・異常診断機能：異常発生時は異常原因がわかるエラーメッセージを表示します。 ・スイープ機能：さらに均一な超音波洗浄が可能です。
操作性の向上と高精度の非破壊検査を実現
■３モード画面（Ａ・Ｂ・Ｃスコープ）同時表示により欠陥の判定容易 ■ワークに合った周波数（高性能高分子凹面超音波探触子）が選択できます。 ■Aスコープ 探触子における受信音圧と超音波の伝播時間とを直角座標にとったものです。異常部の反射音圧や探傷面からの深さを把握できます。 ■Bスコープ～断面像～ Aスコープ波形を輝度変調して線で表し、探触子の試料上における位置(1次元)と音波伝播時間とを直角座標にとったものです。探触子走査線下の異常部の分布状態・存在・深さが表示されるので、断面図を直感的に把握できます。 ■Cスコープ～平面像～ 探触子の下における異常部の有無または反射音圧を輝度変調(Bスコープ像の音波伝播時間軸上の一点を取ることに相当しています。)して、探触子の試料上おける位置(2次元)を直角座標にとったものです。本方法は、記録表示する前に、あらかじめ音波伝播時間上でゲートまたはサンプリングポイントを設定します。平面的な異常の広がり分布がよくわかるので、平板などの探傷に向いています。スライスレベルを変化させることにより欠陥の深さ方向変化等も知ることができます。
