トランジスタ・FET通電試験器
トランジスタ・FETの通電試験を目的とした、長期間監視型ランニング試験装置(温度ストレス対応可)
モデル6300Aは、FET・トランジスタの電気的特性をバーンインテスト状況下で長時間収録する半導体デバイス・ランニング試験装置です。検出抵抗は、FET・トランジスタの特性に応じて交換可能です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
- 企業:東京電子交易株式会社
- 価格:100万円 ~ 500万円
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トランジスタ・FETの通電試験を目的とした、長期間監視型ランニング試験装置(温度ストレス対応可)
モデル6300Aは、FET・トランジスタの電気的特性をバーンインテスト状況下で長時間収録する半導体デバイス・ランニング試験装置です。検出抵抗は、FET・トランジスタの特性に応じて交換可能です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。