1～3 item / All 3 items
パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路についてご紹介
「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 【試験の全景】 ■デバイスは破裂してパッケージが飛び散る場合があるため、 厚さ10mmのアクリルケース内で試験を実施 ■大電流を供給する大容量のコンデンサとDUTは低インピーダンスで接続する 必要があり、特殊構造によりこれを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【NETIS登録番号：QS-230005-A】 コンクリート表面の吸水量を非破壊で簡単に測定可能です！
【表面吸水量試験機】ポロジット+が、2023年の国土交通省新技術情報提供システム（NETIS）に登録されました。 https://fts-ltd.jp/news/netis-porosit/ 【測定手順】 1. 吸着ベースを測定箇所にセットして真空ポンプを作動させ、反力を取りコンクリート面に密着し固定する。 2. 吸水カップの下部よりチューブ及び注射器を用いて注水する。 3. シリンダの最上部（水頭：300 mm）まで注水したら、注水バルブを止める。 *開始より約10秒目安 4. 注水完了後、目視にて吸水による水の減少量を高さ変化として計測する（1分ごとに10分まで11回の水面高さを計測する）。 5. 測定した数値を測定値入力シートに入力する。 6. 自動計測されて、結果が表示される。
アバランシェ試験に必要な試験項目を標準装備。パワーデバイスの研究開発・評価に貢献します
『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、 GO/NG判定を行う装置です。 全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来の ディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。 上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の 管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■スピードを飛躍的に向上 ■低電圧にて、大電流試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
