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非接触測定(センサ) - 企業2社の製品一覧

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静電容量変位センサ 非接触測定

接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能です。

〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。 MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。 〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。 接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。 〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモデルをラインナップ。 MicroSense LLC独自の技術により開発された静電容量型変位センサです。 ■測定フルスケール:±5μm~4500μm、±15μm~250μm、±25μm~500μm ■出力分解能:最高0.0005%FS以下、最高0.001%FS以下、最高0.002%FS以下 ■出力直線性:最高0.02%FS以下、最高0.03%FS以下、最高0.1%FS以下、 ※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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クロマティックコンフォーカル技術、厚さ測定向け非接触式測定

デリケートなワークを傷つけず、破壊検査なしで高品質なワークを生産可能。ワークや環境の変動に強い完全同期システムです。

クロマティックコンフォーカル測定技術を使用したセンサー及びコントローラー。 お客様のワークや環境にあわせて各種ご提供します。世界の自動車・半導体・ガラス業界などで利用されています。 <利点> - 柔らかい素材や透明でない素材の測定に適した非接触技術 (例. アルミロール、銅ロール、リチウムイオン電池セパレーター) - 5µmから層の厚さを測定可能 - インラインでの使用に適した広い測定範囲 - 高感度、高精度 (実際のアプリケーションにおける総厚さの再現性範囲は1µm以内) - 測定フォークまたはゲージング機器一式の提供可能 - Quick-SPCソフトウェアオプションにより、統計処理とデータ転送が可能 下記の課題をお持ちのお客様はぜひ、PDFダウンロードの上、ご相談ください。 - ワークや環境の変動 - 複数のセンサーを使用した同期 - 機械的位置合わせ(傾斜またはずれ) - 測定の詳細把握 - カスタマイズが必要な特別なアプリケーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • ChromaticConfocal_00.jpg
  • ChromaPoint_sensorhead_01.jpg
  • Controller_02.jpg
  • Camera_04.jpg
  • R2R_03.jpg
  • wafer_04.jpg
  • センサ

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