半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7760』
ダブルテーブル/シャトル式!FC-CSP/大型個片基板向けの検査装置
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7760』をご紹介いたします。 チップレットなどの大型・多ピン基板に対応。 個片仕様/シート仕様の2モデルをラインアップしております。 また、LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■個片仕様/シート仕様の2モデルラインアップ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業:ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所
- 価格:応相談