更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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ICP・原子吸光装置レベルの高感度！極微量分析ができる全反射蛍光Ｘ線分析装置
ポータブル全反射蛍光X線分析装置「OURSTEX200TX」は、ポータブルで軽量・高感度、しかも1,000万円を切る低価格の全反射蛍光X線装置です！ 京都大学大学院工学研究科 河合潤教授による発案をアワーズテック社が製品化しました。 【特長】 ●極微量分析に好適！ ●本体総重量わずか8kg！ ●ICP・原子吸光装置に匹敵する高感度分析が可能。 ●SDD(シリコン・ドリフト・ディテクタ)検出器を搭載！ 【用途例】 ◎井戸水や河川の検査に ◎土壌や玩具からの溶出水分析に ◎食品・医薬品・鑑識分野の現場分析に ◎毛髪・大気浮遊粒子の成分分析に 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせ下さい】
高速かつ高精度な定量分析！より高いエネルギー分解と迅速な結果の検出が可能
『Vega』は、軽元素、希土類元素の分析アプリケーションを使用した 装置です。 SDD LEにより、低ノイズ、高カウントの中で、より高いエネルギー 分解と迅速な結果の検出が可能。 優れたピーク/バックグランド比で検出器の応答性を向上します。 【特長】 ■非破壊元素分析(元素分析 Na[11]-U[92] 軽元素、ppm-100%） ■シリコンドリフト検出器 ■高計算率アプリケーションにより低元素／高元素 両対応 ■超薄型ウィンドウを備えたSDD LE(軽元素分析を促進) ■8つのチューブフィルター、二次ターゲット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置
当社では、内蔵SNEにより、信号処理能力が旧型と比較して最大25倍に 向上した据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』を取り扱っています。 コリメーターとフィルターは、異なるアプリケーションに対応するオートスイッチ。 また、フレンドリーなソフトウェアインターフェースにより操作性の簡便性の 向上に貢献します。 【適用分野】 ■RoHS対象元素の分析 ■鉱物及び合金（銅、ステンレス鋼等）の成分分析 ■金、白金、銀等の貴金属及び各種宝石の含有量試験 ■金属のメッキ膜厚の測定 ■主にRoHS関連産業、貴金属及び宝石加工産業、銀行、試験機関、電気メッキ産業 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます！
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。 主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールドなどの金性、プラチナおよび銀、ロジウムメッキされた金や銀合金、合金組成および皮膜厚さ測定、多層の皮膜厚さ測定などです。 【特長】 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○最新のシリコンPin検出器が高い精度と検出感度を達成する ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本性能を備えた卓上型・エネルギ分散型蛍光X線分析装置です。
＜特徴＞ ・非破壊元素分析 Na(11)～U(92) ・6種類のカスタマイズ可能なフィルター ・コンパクト形状 ・サンプルカメラ搭載 ・サンプルトレイ（8/16ポジション） ・シリコンドリフト検出器（SDD）
高機能なラボラトリーシステム
＜特徴＞ ・非破壊元素分析 Na(11)～U(92) ・シリコンドリフト検出器（～125ev） ・ピーク／バックグラウンド比の向上 （二次的ターゲットの励起使用の場合） ・8種類のフィルター、二次的ターゲット
タッチパネル搭載＆バッテリー駆動。ポータブルで安全性に優れたエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。
＜特徴＞ ・非破壊元素分析 Na(11)～U(92) ・シリコンドリフト検出器 ・セルフメンテナンス可能 ・Rh陽極を備えた50kvのX線源 ・自動校正、調整可能なチューブフィルター ・タッチパネルスクリーン搭載
コンパクトで高機能な卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。
＜特徴＞ ・非破壊元素分析 Na(11)～U(92) ・6種類のカスタマイズ可能なチューブフィルター ・サンプルトレイ（8/16ポジション） ・シリコンドリフト（～125eV） ・ユニークなフロント ・コンパクト形状 ・サンプルカメラ搭載
軽元素に適した高出力分析装置
軽元素や希土類元素の分析アプリケーションにおいて、究極の非破壊ソリューションを提供します。 ＜特徴＞ ・高出力 非破壊元素分析 ・シリコンドリフト検出器（～125ev） ・超薄型ウィンドウを備えたSDD LE ※高度な軽元素分析に最適です ・ファンダメンタルパラメーターソフトウェア ・8種類のフィルター、二次的ターゲット
焼却灰やRPFの物質検査に採用実績多数！ 用途を限定する事で、分析精度は犠牲にせずに低価格を実現！小型・軽量・高感度分析器。
・重さわずか9kg！女性も簡単に持運び可能。 ・電源はAC100Vのみ。省電力な装置（従来比1/5） ・過剰な機能を省き、低価格を実現 ・用途に合わせて自在にカスタマイズ可能。 ・SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要 【採用実績】 貴金属の成分分析 焼却灰における有害物質の検査・分析 RPFの成分分析 油中の塩素・硫黄分析
二次的ターゲットに適した卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。
＜特徴＞ ・非破壊元素分析 Na(11)～U(92) ・8種類の二次的ターゲット 8種類の二次的ターゲット、カスタマイズ可能なチューブフィルターを組合わせた特許取得の形状 ・シリコンドリフト検出器（～125eV） 軽元素分析を最適化するSDD Light elements（オプション） ・サンプルトレイ 8/16 ポジション
タッチスクリーン搭載！Mini HDMIやSSD、USBなどに接続が可能
『P-Metrix』は、コスト効率が高いポータブル蛍光X線分析装置です。 フィルターによる直接方式でチューブフィルターは7種類より選択可能。 広い試験室で、サンプルカメラを搭載しています。 セルフメンテナンスや持ち運びが可能な安全性に優れております。 【特長】 ■非破壊元素分析(元素分析 Na[11]-U[92]、ppm-100%） ■シリコンドリフト検出器(～125eV/優れたエネルギー分解能力) ■簡単に部品交換が可能 ■50kV、10W、Rh電極付属の高いパフォーマンス ■自動校正機能、7種類のチューブフィルター ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
国産のハンドヘルド蛍光X線装置！成分分析の結果をもとに合金を判定します
『VoXER』は、金属異材判別に適したハンドヘルド蛍光X線装置です。 測定対象物を選ばずに分析が可能。X線発生源は従来のX線管方式ではなく 摩擦によりX線を発生させています。 当製品は、日本国内で生産、保守体制が整っています。 海外製でメンテナンスにお困りの方にも、安心してご利用いただけます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■金属異材判別に好適 ■バッテリー駆動で何処でも簡易に分析可能 ■従来のX線管ではなく摩耗によるX線発生方式 ■SDD検出器搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社保有の要素技術を結集！軽元素から中重元素分析まで幅広い高感度測定が可能！
『OURSTEX180』は、L線専用、モノクロメーターを搭載した エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 軽元素から中重元素分析まで、幅広い高感度測定が可能。 オイル中のS、CI分析や、セメント・焼却灰中の軽元素分析、 フィルム上の微量軽元素分析、膜厚分析などに適しています。 【特長】 ■コンパクトで可搬性に優れる ■L線専用2重湾曲モノクロメーター搭載 ■Pd-Lα単色励起により軽元素の検出感度が向上 ■高性能SDD検出器・高計数率対応DSPを搭載 ■フィルター機能により中重元素の分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可能
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フード付きです。 主な測定対象としては、数nmの薄膜測定（電子機器、半導体関連）、規制物質の分析（おもちゃの中のPbなど）、高精度を要求する分析（ジュエリー、時計、貴金属）、大学や研究機関などです。 【特長】 ○測定仕様ごとに最適な照射エリアとフィルタを自動で設定 ○最新のシリコンドリフトディテクターが高い精度と検出能力を発揮 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
