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WDXRF×XRD統合で高度プロセス制御を実現する元素分析装置
ARL X900は、産業プロセス制御向けに最適化された波長分散型蛍光X線分析装置（WDXRF）です。 ・ 波長分散型蛍光X線分析（WDXRF）による高精度元素分析 ・ 主成分から微量元素まで高感度・高再現性で定量 ・ 同時／シーケンシャル分析対応で高スループット測定 ・ X線回折（XRD）機能統合による元素分析＋相分析 ・ オンライン品質管理・生産ライン監視に対応 ・ 堅牢設計・長期安定運転で24時間連続分析可能 ・ 金属・セメント・鉱業分野で豊富な導入実績
電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。
『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適 ■機能性多層膜の測定・プリント回路基板などの自動測定 ■小さな測定スポットでも高いカウント数が得られ、高い精度で測定可能 ■高精度かつ長期安定性を有する ■より簡単に膜厚測定と素材分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12mmあるため複雑な形状の段差のある 部品の測定ができるようになります。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。。 【特長】 ■ロングディスタンスタイプ ■非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置 ■プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造 ■装置ハウジング側面に開口部を設けており大きな基板にも対応 ■XY軸はモーター駆動式でプログラム可能な測定ステージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FISCHERのFR法により、より簡単に膜厚測定と素材分析が可能！ ※JPCA Show（国際電子回路産業展) に出展します
『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 品質管理・受入検査・生産管理における、薄膜コーティングの膜厚測定や 組成分析に好適。 全ての測定における適切な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 【一般仕様】 ■使用目的：薄膜、微小構造や金属メッキを測定するエネルギー分散型 蛍光X線測定器(EDXRF) ■対象元素：カルシウムCa(20)からウランU(92)まで、オプションWinFTM SUPERにより最大24種類の元素を同時測定 ■デザイン：卓上型装置、上方向にフードが開閉 ■X線照射方向：上から下 当社は2025年6月4日（水）～6日（金）に東京ビッグサイトで開催される 「JPCA Show 2025（国際電子回路産業展) 」に出展いたします。（東４ホール ブース番号：4I-12） 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
波長分散型(WD)とエネルギー分散型(ED)両方のコアテクノロジを1台に搭載
複数のX線技術（WDX/EDX/XRD）を1台に統合。 Zetium は､軽元素を高感度に分析可能な波長分散と､高速分析･微小部分析に適したエネルギー分散の技術を1つのプラットフォームに搭載することを実現。 軽元素を得意とするWDXの光学系と、重元素を高分解能に検出するEDXの光学系との同時読み取りにより、 従来のWDXのみの装置では困難であった最適な測定条件を提供します。 ●最大５つの検出器で幅広い元素をカバー ・ガスフロー検出器（軽元素用） ・ハイパーシンチレーション検出器（重元素用） ・Xeシールド検出器（中間元素好感度測定用） ・ハイパーチャンネル固定検出器（特定元素専用） ・SDD検出器（EDX測定用） ●ラボでの研究・開発から工場での測定自動化へ 測定の自動化に対応しており、お客様の設備の状態に合わせて、装置のスペックや組み込み方法をご提案します。 高精度・高速・微小部分析とあらゆる分析ニーズに最適の光学系で柔軟に対応。更にオプションの選択によりフリーライムの定量も可能。
高速で正確なアットラインの元素分析を実現！ 高性能デスクトップ型 エネルギー分散型蛍光X線分析装置
Epsilon 4は、従来機に比べ測定感度を向上させたエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（EDXRF）です。 R&Dからプロセス管理の分野で、大気もしくはHeガス雰囲気下で炭素(C)またはフッ素(F)からアメリシウム(Am)まで元素分析が必要な様々な業界に対応する多機能装置です。 最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、 スマートにデザインされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型のXRF分光計に匹敵します。 環境分析、セメント、鉱物、石油製品、食品、プラスチック、化学製品、液体、コーティング材分野に活用されています。 日本語ソフトウェア搭載しています！ 【用途例】 ●RoHSスクリーニング ●原材料のスクリーニング ●石油製品中のS,Ni,V ●石油化学製品中の添加剤分析 ●土壌分析や広範囲な酸化物分析 ●偽物質の識別 ●金属の識別 ●トライポロジー分析
たった40×40cmのスペースで元素分析 小型・パワフルな卓上XRF
Epsilon 1は、分光計、内蔵コンピュータ、タッチスクリーン、および分析ソフトウェアで構成されている完全に統合されたエネルギー分散型XRF分析装置です。 最新の高度な励起および検出技術で動作するEpsilon 1は、低コストのベンチトップ装置クラスで最高の性能を誇ります。 Epsilon 1は、オペレータへの依存とサンプル調製を最小限に抑えることにより、高速でコスト効率よく、高精度なデータを生成できます。 このため、費用が高く、専門の熟練オペレータも必要なAAS、ICP、および湿式化学法などの他の分析技術と比較する、維持費の総額が大幅に削減されます。
卓上型蛍光X線分析装置に低濃度・硫黄/塩素分析分析専用タイプが加わりました。ISO13032準拠Epsilon 1
卓上型蛍光X線分析装置 Epsilon 1に燃料中の低濃度・硫黄/塩素分析分析専用タイプが加わりました。硫黄の国際規格 ISO13032と日本工業規格JIS K2541-4に準拠したモデルです。自動車燃料などの硫黄から原油中の塩素分まで精度高く測定します。完全なPlug-in playで品質管理から製造現場まで広くご利用いただけます。 【高性能・低ランニングコスト】 〇高出力X線管球＆検出系を採用しS/C lに特化した仕様 →硫黄（S )や塩素（C l )の微量分析を実現 〇低いランニングコスト（約140円/1回） →EDXの低いランニングコストはそのままに 【ヘリウムガス不要・大気環境で簡単測定】 〇高感度の光源と検出器により液体窒素・真空システム不要 〇ソフトウェアと一体型装置で設置場所にも困りません 〇ISO13032準拠、低硫黄測定用に事前キャリブレーション済 〇塩素分析用にも事前キャリブレーション済 〇サンプル調整ツール、液体カップ、標準試料も製品に含まれます
高分解能と高計数率を実現した、エネルギー分散型-線検出器と計数回路！ X線回折・蛍光X線分析
ペルチェ素子の冷却によるサーマルノイズの極小化と電荷収集の極大化により、高いエネルギー分解能と高計数を実現した、エネルギー分散型X線検出器と計数回路の綜合システム。
土壌中の有害重金属・産業廃棄物有害元素をいま分析してリスク回避しませんか？
『OURSTEX160』は、土壌中の有害重金属分析、産業廃棄物環境試料の分析などに 最適な蛍光X線分析装置です。 宮城県では産業廃棄物の発生抑制、再使用、再資源化(3R)の推進を目的として 設備機器を整備する事業者に対して、補助金制度を設け支援しており、 この度、当製品を用いて分析業務を行う企業が補助金対象に認定されました。 【特長】 ■小型・軽量な装置 ■簡単・迅速な測定 ■省エネルギーな装置 ■環境に配慮した分析法 ■高分解能・高感度分析が可能 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
WEEE/RoHS指令対応-蛍光X線分析装置OURSTEX160RoHS
2006年7月にEU(欧州連合)で施行されたRoHS指令では電気・電子機器への特定有害6物質(鉛・水銀・カドミウム・六価クロム・PBB・PBDE)の使用が制限されました。 OURSTEX160RoHSではこれらの有害物質を短時間に簡単に測定できます。 また小型・軽量なので現場でのオンサイト分析にも最適です。
ICP・原子吸光装置レベルの高感度！極微量分析ができる全反射蛍光Ｘ線分析装置
ポータブル全反射蛍光X線分析装置「OURSTEX200TX」は、ポータブルで軽量・高感度、しかも1,000万円を切る低価格の全反射蛍光X線装置です！ 京都大学大学院工学研究科 河合潤教授による発案をアワーズテック社が製品化しました。 【特長】 ●極微量分析に好適！ ●本体総重量わずか8kg！ ●ICP・原子吸光装置に匹敵する高感度分析が可能。 ●SDD(シリコン・ドリフト・ディテクタ)検出器を搭載！ 【用途例】 ◎井戸水や河川の検査に ◎土壌や玩具からの溶出水分析に ◎食品・医薬品・鑑識分野の現場分析に ◎毛髪・大気浮遊粒子の成分分析に 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせ下さい】
土壌中の有害元素分析例について紹介します。
土壌汚染対策法では土壌汚染の可能性のある土地について、土壌汚染調査が義務付けられてます。 蛍光X線分析装置「OURSTEX160」では現場で迅速に有害元素の分析が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
溶融スラグの塩基度管理例について紹介します。
焼却灰の有効利用法として、リサイクル可能な灰溶融スラグを製造し、さまざまな分野で利用されています。蛍光X線分析装置「OURSTEX160」はスラグの塩基度（CaO/SiO2）分析によりスラグの品質管理が簡易に行えます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
コンクリートの塩害調査分析例について紹介します。
近年飛来塩分や凍結防止剤の散布などが原因の塩害によるコンクリート構造物の劣化が大きな社会問題となっています。 アワーズテック社の蛍光X線分析装置「OURSTEX101FA」によってコンクリート中の塩化物量を初めて現場で簡易・迅速に測定することが可能となりました。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
土砂・砂利・砕石の分析例について紹介します。
環境問題において最も重要なのはリサイクルによる廃棄物の再資源化ですがその入口で有害物質の有無等を科学的に分析し安全性を評価することが必要です。 蛍光X線分析装置「OURSTEX160」は採石場等での土砂・砂利・砕石の現場分析が簡単に行えます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
小型・軽量・高性能な非破壊分析装置を多数掲載！ 土壌汚染調査やインライン分析、コンクリートの塩害調査に最適です。
非破壊で迅速な現場での元素分析を提供する 蛍光X線分析装置「OURSTEX」シリーズの総合カタログです。 現在土壌分析・RoHS分析・製品の品質管理等様々な分野でご利用いただいております。 弊社では、X線要素技術を駆使した小型・軽量・高性能な装置作りに専念しております。 お客様のニーズに応じた製品をお客様と一緒に創造します。 【掲載内容】 ■OURSTEX 100FA … 可搬・オンサイト分析に最適 ■OURSTEX 101FA … コンクリートの塩害調査に最適 ■OURSTEX 170 … 小型・軽量な分析装置 ※詳しくはPDFをダウンロードいただくかお問い合わせください。
当社保有の要素技術を結集！軽元素から中重元素分析まで幅広い高感度測定が可能！
『OURSTEX180』は、L線専用、モノクロメーターを搭載した エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 軽元素から中重元素分析まで、幅広い高感度測定が可能。 オイル中のS、CI分析や、セメント・焼却灰中の軽元素分析、 フィルム上の微量軽元素分析、膜厚分析などに適しています。 【特長】 ■コンパクトで可搬性に優れる ■L線専用2重湾曲モノクロメーター搭載 ■Pd-Lα単色励起により軽元素の検出感度が向上 ■高性能SDD検出器・高計数率対応DSPを搭載 ■フィルター機能により中重元素の分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
国産のハンドヘルド蛍光X線装置！成分分析の結果をもとに合金を判定します
『VoXER』は、金属異材判別に適したハンドヘルド蛍光X線装置です。 測定対象物を選ばずに分析が可能。X線発生源は従来のX線管方式ではなく 摩擦によりX線を発生させています。 当製品は、日本国内で生産、保守体制が整っています。 海外製でメンテナンスにお困りの方にも、安心してご利用いただけます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■金属異材判別に好適 ■バッテリー駆動で何処でも簡易に分析可能 ■従来のX線管ではなく摩耗によるX線発生方式 ■SDD検出器搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
窓材にグラフェンを搭載！従来のBeに比べて軽元素領域の分析感度が向上
『OURSTEX 170IIS』は、取扱製品「OURSTEX 170型」の後継機モデル となるポータブル蛍光X線分析装置です。 ポータブル性、試料室サイズなどは「170型」を継承し、新型検出器 システムを採用することで軽元素の検出感度が向上。 高精度でかつ、操作性・持ち運びが簡便、コンパクトな蛍光X線分析装置 「170IIS型」として、より一層現場での元素分析ニーズに応えられる 機種になっております。 【特長】 ■コンパクトでポータブルな装置サイズ ■AC100Vのみ、省電力設計 ■過剰な機能を省き低価格を実現 ■新型検出器システムを搭載 ■グラフェンウインドウSDD検出器を採用 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています
EPMA分析は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に微量成分の定量分析や マップ分析等に優れています。 パッケージ内のAu-1stボンディグで不良が発生した例では、腐食原因物質の 特定と分布状況を確認するため、EDX分析とEPMA分析を実施しました。 EPMAでは分解能、検出下限、P/B（ピークバックグラウンド）比が、EDXより 優れているため、微量のCl分布が明瞭に把握することができました。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最?試料寸法：100×100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄膜成分の付着量を試料間で比較
蛍光X線分析（XRF）では、元素分布の簡便な評価が可能です。 本事例では、蒸着装置を用いて任意量のAuを成膜した4inchのSiウエハA・Bを試料として、Auの分布および総付着量の比較を行いました。 面分析の結果より、Auの分布状態が確認できました（図1～4）。また、各画素から得られたXRFスペクトルのAu強度より付着量を比較し、ウエハBはAより多いことを確認しました（図5）。
多点マッピング測定により膜厚分布を可視化
蛍光X線分析（XRF）では、元素分布や膜厚の簡便な評価が可能です。 本事例では、金属薄膜の評価事例として、4inchのSiウエハ上のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fundamental Parameter)法を用いてAu膜厚を算出し、測定座標より膜厚分布の評価をすることが可能です。
樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。
2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観察・質量分析等の破壊を伴う分析手法を主として受託サービスを展開しておりましたが、電子デバイスを破壊せず観察したいという顧客ニーズが近年増加しておりました。また、電子デバイス以外の分野においても、医薬品・医療機器部品の形状確認、食品内部に含まれる構成原料の分布観察、空洞有無確認などの要望が増えつつある状況がありました。 今回ＭＳＴでは最新型の加工・分析装置を導入し、非破壊分析の実施が可能となりました。受託による分析サービスをご提供いたします。
引張応力ごとの三次元構造変化を評価可能
in situ X線CT測定では、試料に負荷（引っ張りもしくは圧縮）を印加した状態で内部構造分析を行うことが可能です。本資料では、アルミニウム板を試料として、通常状態と引き伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施しました。そして、試料にかかる引張応力を計算し、各応力条件ごとの内部構造変化をモニターしました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下 での評価や応力による製品への影響の評価が可能です。
携帯電話・プリンター・デジタルカメラ等に代表されるデジタル製品の制御・通信等開発や、自動車・FA機器などの制御システムの開発。
アプリケーションの開発ネットワークやサーバーの構築及び導入後のサポート等，IT事業に関わる開発からサポートまで、一貫したサービスをご提供致します。
薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可能
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フード付きです。 主な測定対象としては、数nmの薄膜測定（電子機器、半導体関連）、規制物質の分析（おもちゃの中のPbなど）、高精度を要求する分析（ジュエリー、時計、貴金属）、大学や研究機関などです。 【特長】 ○測定仕様ごとに最適な照射エリアとフィルタを自動で設定 ○最新のシリコンドリフトディテクターが高い精度と検出能力を発揮 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
溶接材料の選定ミスや溶接後の不良にお悩みの方必見！溶接試験事例集プレゼント
当社では蛍光X線分析法による『PMI検査』を行っています。 検査材を送付していただく「社内検査」か、もしくは 当社から技術者を派遣する「オンサイト検査」を選択可能です。 溶接で使用する線材、鋼材、溶接金属などの事前チェックや 使われた溶接材が適切であったかなどを非破壊で調査できるため、 金属加工や機械製作、配管など様々な業種での異材混入防止や不良、腐食対策に最適です。 ★豊富な調査例を掲載した『溶接試験事例集』プレゼント中！ 【適用対象】 ■炭素鋼、低合金鋼、ステンレス鋼などの鉄鋼材料 ■インコロイ、ハステロイ、インコネルなどのNi基合金 ■純銅、黄銅、青銅、洋白、モネルなどのCu合金 ■その他、Ti合金やCo基合金など ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
検出時間・検出感度に対応可能！元素数に優れたハンドヘルド蛍光X線分析計
蛍光X線分析装置『DELTA Professional DPO-2000』は、検出時間・検出感度に対応可能な元素数に優れたハンドヘルド蛍光X線分析計です。X-act Count（エグザクトカウント）テクノロジーを搭載。多くの環境下で対応可能な堅牢設計により、優れた耐久性を発揮します。 【特長】 ■X線管：4W、最大管電流：200μA、最適化されたビーム設定 ■優れた検出感度と高い測定スループットを両立 ■各種元素の高感度分析に適した大口径SDD ■軽元素の高感度分析に効果のある自動気圧（高度）補正機能内蔵 ■高速起動と高カウントレート測定により検査時間を短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
