FT-IR分光計『INVENIO S』
ブルカーの革新技術で生産性向上！お客様のFT-IR分析を最大限に活用します！
『INVENIO S』は、日常分析やラボでの 高度な分析における効率性の最大化を重視した、FT-IR分光計です。 SoC (system-ona-chip) エレクトロニクス、高精度な光学系、そして 総合的に高度な設計品質により、優れた赤外測定感度を実現しています。 また、当製品は様々なIRアプリケーションに適合。 試料のタイプにかかわらず、最適化されたアクセサリと拡張機能が、 適した実験条件を提供します。 【特長】 ■定義済みのワークフローによるユーザーフレンドリーなタッチ操作 ■統合されたATRアクセサリ ■第2透過試料室 (Transit) ■アップグレード対応 (UV/VIS-FIR、TRS) ■豊富なサンプリングアクセサリ ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
