JTAGテストツール（バウンダリースキャンテスト）
CSP・BGA・MCM搭載基板の実装検査が簡単に行えるテスター
●PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。 ●半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です（スキャンプラス・ ランナーADOオプション）。 ●検査機能には以下のものがあります。 ・TAP Integrity ・Interconnect ・Buswire ・Cluster ・メモリ、FIFOデバイステスト 技術サポート万全！ 治具まで含め全て引き受けられます。
- 企業：株式会社ニューリー・土山
- 価格：応相談
