半導体検査（ウエハテスト）サービス御提案書
信頼性試験から故障解析レポートまでサポートします！
菱進テックでは、半導体検査（ウエハテスト）サービスを行っています。 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化する OST（Outliers Screening Test）などの技術を提供。 その他に静電気管理や地震対策、信頼性試験などがあります。 【ウエハテストの技術】 ■PAT(Part Average Testing) ・目的：テストの個別項目の測定値について、分布を算出、 主分布より外れたデータのチップを不良化 ■GAT(Geometric Analysis Testing) ・目的：テスト結果のマップデータにて、ウエハ上の位置的な分布より、 良品分布から外れたチップを検出、不良化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社菱進テック
- 価格：応相談
