ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015
ガラス基板、メディア表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度に検出
ＣＣＤカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板、メディアの表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度に検出する量産ライン検査装置です。 合否判定に基づいたディスクの自動振り分け、検査結果は上位システムに通信し管理することが可能。 ・スループット ～800PPH（検査条件による） ・フットプリント 本体： (W) 1380 × (D) 1700 ×(H) 2100 mm (W) 1810:カセット受渡部を含む ＰＣラック： (W) 570 × (D) 630 × (H) 1850 mm ・クリーン度 クラス10（＠0.1μm） ・自動搬送システムに対応 検査仕様 ・対応ディスク １．８９”，２．５”，３．５” ・検査領域 内周端面を除く全域（または指定領域） ・センサ素子サイズ ７ｕｍ ・ピクセル分解能 検査領域（レンズ倍率に依存） ・レンズ倍率 １ｘ～３ｘ（検査内容に合わせて設計） ・設計事例 ２．５”ディスク、８００ＰＰＨ 検査領域 内周 ： Ｒ１０．０ ～ Ｒ１５．０（２ｘ） 外周 ： Ｒ３１．０ ～ Ｒ３２．５（３ｘ）
- 企業：株式会社クボタ計装
- 価格：応相談
