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デジタルオシロスコープ(時間測定) - メーカー・企業と製品の一覧

デジタルオシロスコープの製品一覧

1~3 件を表示 / 全 3 件

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小冊子「パワーアンプのRFFE コマンド同期試験」

パワーアンプのRFFEコマンド同期試験とは?デジタル・オシロスコープを使用した測定のヒント!

R&Sのデジタル・オシロスコープを使用した測定のヒント「パワーアンプのRFFE コマンド同期試験」を無料進呈中! 【デジタル・オシロスコープ『R&S RTO2000』の特長】 ■ 周波数帯域: 600 MHz / 1 / 2 / 3 / 4 GHz ■ 最大16ビット分解能 ■ 時間・周波数のコンボでゾーン・トリガを実現 ■ 業界最速100万回/秒の波形更新レート ■ 最高20 Gサンプル/秒の高速サンプリング ■ ミックスド・シグナル解析機能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

  • オシロスコープ

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組込電源の効率的なデバッグ手法

通信インタフェースの時間相関をモニタするには好適なソリューションです。

デバッグ用の計測器は危険な高電圧測定を行うために、絶縁入力 チャネルを搭載している必要があります。 さらに、オプションのデジタルチャネルは、デジタル信号解析をサポートし、 トリガ機能やデコード機能は、シリアル・プロトコルをベースとした通信 インタフェースの時間相関をモニタするには好適なソリューションです。 【アプリケーション】 ■組込電源 ■組込型AC/DC電源の評価 ■R&S Scope Riderの設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • オシロスコープ

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デジタル・オシロスコープのデッドタイムが測定に与える影響

デッドタイムが発生する原因と、高速波形更新レートの重要性について解説。

全てのデジタル・オシロスコープにはデッドタイムがあります。このため、 デッドタイム内に生じる製品からの不具合信号を捕捉できない場合があります。 このように、測定におけるデッドタイムを把握することは、デバッグに おいては非常に重要です。 当アプリケーション・ノートでは、デッドタイムが発生する原因と、 高速波形更新レートの重要性について解説します。 併せて、R&SRTO オシロスコープの新機能によるデバッグ作業の 効率化についてもご紹介します。 【掲載内容(抜粋)】 ■デッドタイムとは?  ・デジタル・オシロスコープのアーキテクチャ  ・デッドタイム- デジタル・オシロスコープの特性 ■デッドタイムの影響とは?  ・見えない不具合波形  ・デッドタイムが測定に与える影響  ・稀な不具合信号に対するテスト時間 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他電子計測器
  • 信号発生器

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