デバイス特性評価ソリューション - メーカー・企業と業務用製品

光電融合デバイスの特性評価に最適なソリューション特集

SiPh/PIC開発を加速させる評価ソリューション

本製品群は、シリコンフォトニクス(SiPh)やフォトニック集積回路(PIC)などの開発における特性評価と不具合解析を、高速かつ高精度に実現する測定ソリューションです。光電融合デバイス開発において重要なのは、「測定結果をいかに迅速に開発へフィードバックできるか」ということです。各種光学特性を正確に評価し、課題を素早く特定することで、開発効率の向上に貢献します。 WDL特性やPDL特性だけでなく、OFDR技術を利用することによりデバイス内部の反射位置を測定し、損失発生箇所を特定することも可能です。