半導体パッケージ多面付けフルパネル基板検査装置
上下総合48Kポイント対応！大判フルパネル基板（500×620mm）の多面付け一括・高速検査ソリューション
当社が取り扱う、半導体パッケージ多面付けフルパネル基板検査装置 『GATS-8370』をご紹介します。 ユニットサイズの大型化・多ピン化が進む次世代半導体パッケージに最適。 フルパネル基板の一括・高速検査に対応する高精度電気検査装置です。 1シャトルによる効率的なステップ＆リピート検査を実現し、品質向上とタクトタイム短縮を両立します。 【特徴】 ■上下総合48Kポイント（49,152p）の大容量検査 ■大型ユニット製品の一括検査（最大300mm） ■大判フルパネルサイズ（500mm × 620mm）に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
