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パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実施！
チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す熱ストレスへの耐久性を 評価するために、「パワーサイクル試験」の重要性が増しています。 当社では、試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で 実施しています。 また試験サービスだけではなく、試験装置の開発・販売も 行っておりますので、ご用命の際はお気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■複数のサンプルを同時に試験できるため試験期間の短縮を図れる ■Si、SiC、GaNの材料に対応 ■豊富なチップ温度の測定技術を保有 （Vf・Vce・Vdsの温度特性より算出、熱電対の使用など） ■パワーモジュールの熱抵抗測定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デバイスからシステムまで、お客様の課題に対し広範囲にサポート！ AEC-Q101等、パワーサイクル試験のご要望に対応します。
デバイス周辺・情報通信機器等の設計受託を行うWTIでは、専用の 試験ルームと人員を確保されているパートナー会社と協業する形で 『パワーサイクル試験』を行っています。 パワーモジュールでは、kWレベルの大電力を扱うため、通電のON／OFFを 繰り返すことで熱応力が発生し、製品の性能低下や破壊、製品を取りつける グリース劣化による放熱性低下に伴う製品破壊といった症状が見られるようになります。 対応する試験は規格として制定されており、JEITA-ED-4701/601 602 603。 車載用電子部品ではAEC-Q101で規格化されています。また、グリース評価を するための試験等、目的によって様々な条件で試験が実施されています。 【特長】 ■パワーモジュールの静特性評価・スイッチング評価はもちろんのこと、 熱・応力解析による構造開発サポートもおこなうことが可能 ■モジュール単体だけではなく、DC-DCコンバータ等の電源システム開発まで サポートできる体制が整っている ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
自社開発の通電試験制御ユニットにより、価格をおさえたパワーサイクル試験の実施が可能
パワー半導体モジュールの信頼性テスト、パワーサイクル試験を受託いたします。 弊社では、「通電試験制御ユニット」を自社開発し、汎用電源を自社開発制御ユニットでコントロールすることで比較的安価なパワーサイクル試験を実現しました。 パワーサイクル試験を低コストで行いたい、試験にかけられる予算があまり確保できないというお客様、ぜひご相談ください。
Power Cycling Test
・パワーデバイスに大電流を周期的に加え(On/Off状態)、熱的・電気的ストレスに対する耐久性の 評価が可能です。 ・過渡熱抵抗測定機構(T3Ster)を搭載し、パワーデバイス全体および各部材の熱抵抗値を測定して、 サイクルに伴う劣化を定量的に評価します。 ・試験用デバイスの試作も対応しますので、部材単体のご提供でも評価が可能です。
