波長掃引型フォトニクスアナライザ『SPA-110』
OFDR技術を用いた波長掃引型フォトニクスアナライザ
本製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置です。 ■特徴 反射点計測：高い分解能 5 μm 波長依存損失計測：広いダイナミックレンジ 80 dB 近接センシング：ファイバプローブとデバイス間の距離測定
- 企業：santec Holdings株式会社
- 価格：応相談
