NS Probe＜プリント基板＆半導体パッケージ基板検査＞
MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！
当社で取り扱う、『NS Probe』をご紹介いたします。 プリント基板＆半導体パッケージ基板検査システム用の製品。 MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現しました。 Probe Typeは「Flat」と「Point」の2タイプをご用意しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■Flat-Type ・寸法精度の向上 ■Point-Type ・材料選定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所
- 価格：応相談
