更新日： 集計期間:2025年08月27日～2025年09月23日
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「形で捕らえ、極める」産業用CMOSカメラ White-eyeシリーズ 高速・高解像度モノクロラインスキャンカメラ
FCは、最大8192画素の分解能と、最大640MHz（FCH800A)のサンプリングレートを持つ高画素、高速なモノクロラインスキャンカメラです。カメラの映像出力は、CameraLink（Base/Midium/FullConfiguration）に対応し、映像データを仕様毎に８/10/12bitにてデジタル出力します。また４K画素、6K画素出力カメラもラインナップしております。ピクセルサイズ7.0μm×7.0μm、アンチブルーミングと露光制御機能を搭載しており、多彩なアプリケーションに対応できます。
16K解像度で最大120kHz出力可能な高速ラインスキャンカメラ
■特徴 Gpixel社のCMOSセンサーGL3516を搭載した16Kラインスキャンカメラ。 水平解像度16384画素の3.5×3.5µm CMOSで、ラインレートは最大120kHzでの撮像が可能な為 16K解像度で高速スキャンが要求される分野において最適です。 77mm角のコンパクトな筐体設計で前面・4側面に取り付け用タップも装備しているので、設置位置・条件に困りません。
ウェハーおよびマスクの検査における品質管理！優れたウェハー検査システムにおいて重要な役割
高性能のセンサー、カメラ、フレームグラバ、画像処理装置、 画像処理ソフトウェアを用いた、半導体検査事例をご紹介いたします。 テレダインダルサ社の「Falcon2 CMOSカメラ」は、数百メガピクセルの 解像度と高いフレームレートを持っており、エリアスキャン型の 検査システムに好適。 「TDIラインスキャンカメラ」は高い感度を持っており、優れた ウェハー検査システムにおいて重要な役割をはたしています。 【事例概要】 ■半導体ウェハー検査 ■半導体マスク検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能キーデバイス搭載により低消費電力・低発熱を実現
75Ωの同軸ケーブルを使用する、マシンビジョン用途の高速画像伝送用に開発された デジタルインターフェース「CoaXPress」のラインスキャンカメラシリーズ。 高速・高解像度のセンサーを中心に、強力なラインアップを取り揃えており、 高画素・高速ラインレートの画像を安定して取り込みつつ、ケーブル長を伸ばしたい場合に最適です。 カメラ筐体に取り付け用タップも装備しており、あらゆる設置位置・条件に対応します。 高性能キーデバイスによる低消費電力・低発熱と、高い放熱性を誇る高信頼設計により 同じセンサー・インターフェースの他社品と比較しても消費電力が低く コンパクトな筐体サイズでありながら、放熱アイテム無しでご使用頂けます。 ※製品仕様につきましては、カタログをダウンロードください。 ※デモ機の貸出も行っておりますので、お気軽にお問い合わせください。
小型で高速・高精度スキャン！エッジ検査パターン検査に最適！
接写型ラインカメラminiはレンズ一体型のコンパクト設計。画素分解能は7μmで、微細な検査が可能です。 照明は内蔵タイプと外付けタイプをラインナップし、検査対象に合わせて選択いただけます。 ■接写型ラインカメラminiシリーズの主な特長 ・画素分解能7μm ・搬送されているワークを連続で撮像できる ・レンズ一体型のコンパクト設計 ・至近距離で接写が可能 【検査対象】 ・半導体ウェハのエッジ ・高機能フィルムなどのエッジ ・高精度な寸法測定 …など
少ない台数のカメラで高い解像度を得ることが可能！動く表面を100％撮像
「ラインスキャンシステム」を印刷物の製品検査に用いた事例をご紹介します。 紙から段ボール、プラスチック、金属などで出来たシートやロールの 形状になっている印刷物の検査は当システムが好適。 ラインスキャンにより、ロールの動く方向に提供される画素の数に、 制限がなくなり、高速で高いダイナミックレンジになっても、 スミアの発生がなくなります。この結果生産性は向上し、 ピクセルあたりの単価を下げることが可能です。 【製品検査内容】 ■大量のWeb検査 ■梱包検査 ■チケットの検査 ■紙幣の検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
次世代伝送規格であるCoaX出力を搭載。Power Overにも対応した高速長距離伝送モデル！
本カメラは、最大8192画素の分解能と640MHzのデータレート、素子サイズ７×７µｍシングル及びデュアルラインのＣＭＯＳセンサを採用した高速高解像度のモノクロラインスキャンカメラです。CoaX出力を搭載し８、10、12bitのデジタルデータを出力します。アンチブルーミング、露光制御機能も搭載しており、多彩な用途にご活用いただけます。
高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに！SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
『LiSa SWIR 2048-M-STE2』は、0.9〜1.7µm帯を高感度に捉えるInGaAsラインスキャンカメラです。 2048×1画素・グローバルシャッタにより、フル解像度>110kHzの高速読出しと最短1µsの露光を実現。 14bit A/D（出力8/10/12/14bit）に対応し、ROIでスループットを最適化できます。 【特長】 ■ヒストグラムベースAGC、1点/2点NUC、欠陥画素補正、水平反転、ユーザープリセットを標準搭載 ■GenICam/GenCP準拠で既存検査ソフトとの親和性が高く、Camera Link Baseで堅牢に接続可能 ■6〜24V駆動、Cマウント、−40〜+71°C動作、調整式TECにより工場現場での安定運用を支援 （電源/トリガケーブル・12V電源同梱） ※詳しくはカタログダウンロードまたはお問い合わせください。
