日本製｜SWIRラインスキャンカメラ WAL-1001-GE
可視光では見えない欠陥を検出。12.5μm画素搭載の高速SWIRラインスキャンカメラ
『WAL-1001-GE』は、InGaAsセンサーを搭載した産業用SWIRラインスキャンカメラです。 900〜1700nmのSWIR波長域での撮像により、可視光では識別が困難な素材の組成・水分含有量・表面下の欠陥・黒色プラスチックなどを高コントラストで可視化します。 12.5 μm角の大型画素とピーク量子効率83%の高感度設計で、低照度環境や高速シャッター時でも鮮明な画像を取得。 最大14 bit（16,384階調）出力で、微細な輝度差も精密に識別できます。 【特長】 ■ SWIR帯域（900〜1700 nm）対応のInGaAsラインスキャンカメラ（1K） ■ 12.5 μm大型画素によりS/N比と低照度感度に優れた高画質を実現 ■ ピーク量子効率最大83%で高速シャッター・低照度環境でも画質を維持 ■ 最大ラインレート29 kHzの高速スキャン（GigE Vision） ■ 8〜14 bit出力（最大16,384階調）で微細な差異を高精細に表現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。
- 企業：株式会社ジェイエイアイコーポレーション
- 価格：応相談
