半導体テストソリューション

AI時代を支える先端テストシステム！技術と品質で半導体のテストを実現するソリューション

『半導体テストソリューション』は、SiPhウェーハテストやCPOテストなど多岐にわたる先端半導体試験に対応した検査、測定システム及び技術、サービス全般です。　当製品は、高精度な位置決めと多サイト並列測定により、高いスループットと信頼性の高い評価を実現します。温度制御や超高精度測定、全自動化技術を統合し、テスト効率の向上と安定した品質評価に貢献します。【特長】 ■SiPh、CPO、WAT & RDL、HBM KGSDなど多岐にわたる先端試験に対応 ■最大4サイト並列測定と高精度Pick & Placeによる高スループット実現 ■-40°C～125°Cの温度試験および超高精度測定技術を搭載 ■全自動ハンドラおよび柔軟なMES連携ソフトウェアを統合 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。