疑似同軸落射照明 IFVBシリーズ
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 採用しているハーフミラーの改良により、IFVAシリーズと比べて解像力が大幅に高くなりました。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
- 企業:株式会社レイマック 本社
- 価格:応相談
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高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 採用しているハーフミラーの改良により、IFVAシリーズと比べて解像力が大幅に高くなりました。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
疑似同軸・ストレート疑似同軸で均一照射照明 ・
鏡面ワークに最適 ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明 ハーフミラーを用いてカメラ軸に対し直交する軸で照射・撮像が可能。 IFVAに比べて高さ方向のスペースが削減でき、省スペース化を実現。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能