向け高精度検査装置 - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

大型個片半導体パッケージ向け高精度検査装置　

総合位置決め精度±2.5µm！大型・多ピン半導体パッケージ基板の検査に最適な高精度検査装置

『GATS-7837』は、サイズの大型化および多ピン化が進む半導体パッケージ基板の検査において、極めて高いコンタクト精度を実現する高精度検査装置です。 【特徴】 ■総合位置決め精度±2.5μm ■Tray挿入/排出のローダ・アンローダ対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。