【半導体業界】集積回路測高検査装置1型
仕様に合わせた完全オーダーメイド。貴社専用のIC測高装置をゼロからカタチに。
ミクロン単位の精密3D計測。自動・手動両対応のIC測高検査装置 『集積回路測高検査装置1型』 本装置は、スロットマガジンに格納されたリードフレーム内ICの3D高さを高精度に計測する検査装置です。 【主な特長】 自動・手動両対応：自動ローディングによる連続計測と、ワーク1枚の手動セット計測の双方に対応。試作から量産まで柔軟に運用できます。 高精度3D計測：X・Y軸移動分解能1μmを実現。視野角10mm以内・高さ0.7mm以内の精密測定が可能です。 多品種対応：最大99レシピの登録に対応。 ※掲載装置は参考品です。類似機や新規装置の開発・製作にも柔軟に対応いたします。 株式会社ライズワン 「設計から、その先（保守・改善）まで。FA装置のすべてを、ひとつのチームで。」 「『こうしたい』をカタチにし、ずっと守り抜く。FA装置のワンストップ・パートナー。」
- 企業：株式会社ライズワン
- 価格：応相談
