【導入事例多数掲載！】ボード検査システム『JTAGテスト』
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
「JTAGテスト」は試作開発から量産・メンテナンスまで活用できるツールです。 部品内蔵基板やBGA・TSV等の「見えない・触れない」部品のピンのはんだ不良を検出します。 【掲載企業（全7社）】 ■アズビル太信株式会社様…基板実装の検査工程でJTAGテストを導入 ■アンリツ株式会社様…LTE測定器の検査にJTAGテストを採用 ■株式会社沖電気コミュニケーションシステムズ様…BGA実装基板の不良箇所をJTAGテストで実現 ■コニカミノルタ電子株式会社様…JTAGテストと生産ラインのFA化を実現 ■サクサテクノ株式会社様…BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上 ■Spansion inc. 社様…高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現 ■ティアック株式会社様…開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部
- 価格：応相談
