斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』
Maxφ130mmまで対応可能なレーザー光斜入射干渉計 位相シフト法による画像解析
レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。 半導体ウェーハ（GaN、SiC、サファイア）などの研究開発、量産ラインで品質向上のために活躍します。
- 企業：株式会社ニデック コート本部
- 価格：応相談
干渉法フラットネステスタ - メーカー・企業と製品の一覧
干渉法フラットネステスタの製品一覧
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斜入射干渉法フラットネステスター『FT-900』
Maxφ200mmまで対応可能なレーザー光斜入射干渉計 位相シフト法による画像解析
レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。 半導体ウェーハ（GaN、SiC、サファイア）などの研究開発、量産ラインで品質向上のために活躍します。
- 企業：株式会社ニデック コート本部
- 価格：応相談
